На главную | База 1 | База 2 | База 3
Испытания и Сертификация Испытательный центр Орган по сертификации Строительная экспертиза Обследование зданий Тепловизионный контроль Ультразвуковой контроль Проектные работы Контроль качества строительства Скачать базы Государственные стандартыСтроительная документацияТехническая документацияАвтомобильные дороги Классификатор ISO Мостостроение Национальные стандарты Строительство Технический надзор Ценообразование Экология ЭлектроэнергияПоддержать проект
Поддержать проект
Скачать базу одним архивом
Скачать обновления

МИ 782-85

Методические указания. Государственная система обеспечения единства измерений. Микрометры с ценой деления 0,01 мм. Методика поверки

Обозначение: МИ 782-85
Обозначение англ: MI 782-85
Статус:действует
Название рус.:Методические указания. Государственная система обеспечения единства измерений. Микрометры с ценой деления 0,01 мм. Методика поверки
Дата добавления в базу:01.10.2014
Дата актуализации:01.01.2021
Область применения:Методические указания распространяются на микрометры с ценой деления 0,01 мм типов МК; МЛ; МТ; МЗ; МГ; МП по ГОСТ 6507-78 и устанавливают методику их первичной и периодической поверок. По настоящим методическим указаниям допускается поверять микрометры с аналогичными параметрами, находящиеся в эксплуатации и выпущенные до введения в действие ГОСТ 6507-78.
Оглавление:1 Операции и средства поверки
2 Требования безопасности
3 Условия поверки и подготовка к ней
4 Проведение поверки
5 Оформление результатов поверки
Приложение 1 (справочное). Кронштейн
Приложение 2 (справочное). Динамометр для определения измерительного усилия микрометров
Приложение 3 (справочное). Приспособление для определения погрешности микрометрического устройства
Приложение 4 (справочное). Приспособление для определения погрешности микрометрических головок
Приложение 5 (справочное). Мера с цилиндрическими измерительными поверхностями
Приложение 6 (справочное). Схема определения измерительного усилия микрометра
Приложение 7 (справочное). Схема определения отклонения от перпендикулярности измерительной поверхности микрометрической головки относительно оси вращения микрометрического винта
Приложение 8 (справочное). Схема для определения погрешности микрометров типа МГ
Разработан: ВНИИизмерения
Утверждён:13.03.1985 НПО ВНИИМ им. Д.И. Менделеева
Расположен в:Техническая документация Экология МЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ. ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ Линейные и угловые измерения Измерительные приборы
Список изменений:
Заменяет собой:
  • Инструкция 135-61
Нормативные ссылки:
МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85МИ 782-85

Текстовое изменение № 1

№ 1№ 1№ 1№ 1№ 1
()