ГОСТ 26239.5-84

Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей

Обозначение:	ГОСТ 26239.5-84
Статус:	действует
Название рус.:	Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей
Название англ.:	Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination
Дата актуализации текста:	06.04.2015
Дата актуализации описания:	01.07.2023
Дата издания:	21.01.1985
Дата введения:	01.01.1986
Нормативные ссылки:	ГОСТ 123-78;ГОСТ 618-73;ГОСТ 859-78;ГОСТ 1089-82;ГОСТ 1277-75;ГОСТ 2603-79;ГОСТ 3640-79;ГОСТ 3765-78;ГОСТ 4220-75;ГОСТ 4233-77;ГОСТ 4328-77;ГОСТ 4331-78;ГОСТ 4951-79;ГОСТ 6709-72;ГОСТ 6835-80;ГОСТ 9293-74;ГОСТ 10297-75;ГОСТ 10484-78;ГОСТ 11125-78;ГОСТ 12797-77;ГОСТ 13610-79;ГОСТ 14261-77;ГОСТ 18289-78;ГОСТ 18300-87;ГОСТ 18344-78;ГОСТ 24104-88;ГОСТ 26239.0-84;ОСП 72/87
Область применения:	Настоящий стандарт устанавливает нейтронно-активационный метод определения примесей в нелегированном полупроводниковом кремнии и кварце. Метод не распространяется для анализа кремния марок КЭС-0,01 и КЭМ-0,01
Список изменений:	№1 от 01.01.1991 (рег. 25.06.1990) «Срок действия продлен»
Расположен в:	Государственные стандарты Общероссийский классификатор стандартов Электротехника Полупроводниковые материалы Классификатор государственных стандартов Металлы и металлические изделия Цветные металлы и их сплавы. Прокат из цветных металлов Методы испытаний. Упаковка. Маркировка