|
||||||||||||||||||||||||||||
| Обозначение: | ![]() ГОСТ 26239.7-84 |
| Статус: | действует |
| Название рус.: | Кремний полупроводниковый. Метод определения кислорода, углерода и азота |
| Название англ.: | Semiconductor silicon. Method of oxygen, carbon and nitrogen determination |
| Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
| Дата актуализации описания: | 01.07.2023 |
| Дата издания: | 21.01.1985 |
| Дата введения: | 01.01.1986 |
| Нормативные ссылки: | ГОСТ 334-73; ГОСТ 742-78; ГОСТ 828-77; ГОСТ 2156-76; ГОСТ 3647-80; ГОСТ 3760-79; ГОСТ 4204-77; ГОСТ 4461-77; ГОСТ 4828-83; ГОСТ 5072-79; ГОСТ 6709-72; ГОСТ 10297-75; ГОСТ 10484-78; ГОСТ 18300-87; ГОСТ 20288-74; ГОСТ 26239.0-84;ОСП-72/87 |
| Область применения: | Настоящий стандарт устанавливает метод определения кислорода, углерода и азота в полупроводниковом кремнии с использованием активации ускоренными ионами и протонами |
| Список изменений: | №1 от 01.01.1991 (рег. 25.06.1990) «Срок действия продлен» |
| Расположен в: | |


















