Настоящий стандарт распространяется на дефектоскопы на базе ускорителей заряженных частиц - источников ускоренных электронов и тормозного излучения, предназначенные для обнаружения дефектов при контроле изделий и полуфабрикатов
Список изменений:
№1 от 01.07.1990 (рег. 09.11.1989) «Срок действия продлен»