|
||||||||||||||||||||||||||||
| Обозначение: | ![]() ГОСТ 26239.1-84 |
| Статус: | действует |
| Название рус.: | Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Метод определения примесей |
| Название англ.: | Semiconductor silicon, raw materials for its production and quartz. Method of impurities determination |
| Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
| Дата актуализации описания: | 01.07.2023 |
| Дата издания: | 21.01.1985 |
| Дата введения: | 01.01.1986 |
| Нормативные ссылки: | ГОСТ 123-78; ГОСТ 804-72; ГОСТ 849-70; ГОСТ 859-78; ГОСТ 1277-75; ГОСТ 1467-77; ГОСТ 3118-77; ГОСТ 3640-79; ГОСТ 3778-77; ГОСТ 4331-78; ГОСТ 4461-77; ГОСТ 4526-75; ГОСТ 4530-76; ГОСТ 5905-79; ГОСТ 6008-82; ГОСТ 6835-80; ГОСТ 6836-80; ГОСТ 10216-75; ГОСТ 10262-73; ГОСТ 10928-75; ГОСТ 11069-74; ГОСТ 11125-84; ГОСТ 13610-79; ГОСТ 13637.1-77; ГОСТ 14261-77; ГОСТ 16539-79; ГОСТ 17746-79; ГОСТ 18300-87; ГОСТ 22516-77; ГОСТ 23463-79; ГОСТ 26239.0-84;ТУ 6-09-5382-88 |
| Область применения: | Настоящий стандарт устанавливает химико-атомно-эмиссионный метод определения примесей в интервалах значений массовых долей в полупроводниковом кремнии, двуокиси кремния, кварце, четуреххлористом кремнии и трихлорсилане |
| Список изменений: | №1 от 01.01.1991 (рег. 25.06.1990) «Срок действия продлен» |
| Расположен в: | |


















