На главную | База 1 | База 2 | База 3
Испытания и Сертификация Испытательный центр Орган по сертификации Строительная экспертиза Обследование зданий Тепловизионный контроль Ультразвуковой контроль Проектные работы Контроль качества строительства Нормативные базы Государственные стандартыДекларация о соответствии Единый перечень продукции ТС Классификатор государственных стандартов Общероссийский классификатор стандартов Обязательная сертификация Окп Тематические сборники Технические регламенты РФ Технические регламенты Таможенного союзаСтроительная документацияТехническая документация

ГОСТ 18986.11-84

Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь

Обозначение: ГОСТ 18986.11-84
Статус:действует
Название рус.:Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь
Название англ.:Semiconductor diodes. Total series equivalent resistance measurement methods
Дата актуализации текста:06.04.2015
Дата актуализации описания:01.07.2023
Дата издания:01.08.2002
Дата введения:01.07.1985
Взамен:ГОСТ 18986.11-74
Содержит требования:СТ СЭВ 3199-81
Нормативные ссылки:IEC 60147-2F;ГОСТ 18986.0-74
Область применения:Настоящий стандарт распространяется на варикапы и туннельные диоды и устанавливает два метода измерения последовательного сопротивления потерь: для варикапов, предназначенных для работы в диапазоне от 0,25 до 1000 МГц; для туннельных диодов
Расположен в:Государственные стандарты Общероссийский классификатор стандартов Электроника Полупроводниковые приборы Диоды Классификатор государственных стандартов Электронная техника, радиоэлектроника и связь Элементы радиоэлектронной аппаратуры Методы испытаний. Упаковка. Маркировка
ГОСТ 18986.11-84ГОСТ 18986.11-84ГОСТ 18986.11-84ГОСТ 18986.11-84ГОСТ 18986.11-84ГОСТ 18986.11-84ГОСТ 18986.11-84ГОСТ 18986.11-84