На главную | База 1 | База 2 | База 3
Испытания и Сертификация Испытательный центр Орган по сертификации Строительная экспертиза Обследование зданий Тепловизионный контроль Ультразвуковой контроль Проектные работы Контроль качества строительства Нормативные базы Государственные стандартыДекларация о соответствии Единый перечень продукции ТС Классификатор государственных стандартов Общероссийский классификатор стандартов Обязательная сертификация Окп Тематические сборники Технические регламенты РФ Технические регламенты Таможенного союзаСтроительная документацияТехническая документация

ГОСТ 18986.8-73

Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления

Обозначение: ГОСТ 18986.8-73
Статус:действует
Название рус.:Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления
Название англ.:Semiconductor diodes. Method for measuring reverse recovery time
Дата актуализации текста:06.04.2015
Дата актуализации описания:01.01.2021
Дата издания:01.05.2004
Дата введения:01.01.1975
Нормативные ссылки:ГОСТ 18986.0-74
Область применения:Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановления
Список изменений:№0 от 24.06.1987 (рег. 23.06.1987) «Срок действия продлен»
№1 от 01.10.1982 (рег. 02.06.1982) «Срок действия продлен»
№2 от 01.01.1996 (рег. 12.07.1995) «Срок действия продлен»
Расположен в:Государственные стандарты Общероссийский классификатор стандартов Электроника Полупроводниковые приборы Диоды Классификатор государственных стандартов Электронная техника, радиоэлектроника и связь Элементы радиоэлектронной аппаратуры Методы испытаний. Упаковка. Маркировка
ГОСТ 18986.8-73ГОСТ 18986.8-73ГОСТ 18986.8-73ГОСТ 18986.8-73ГОСТ 18986.8-73ГОСТ 18986.8-73ГОСТ 18986.8-73