На главную | База 1 | База 2 | База 3
Испытания и Сертификация Испытательный центр Орган по сертификации Строительная экспертиза Обследование зданий Тепловизионный контроль Ультразвуковой контроль Проектные работы Контроль качества строительства Скачать базы Государственные стандартыДекларация о соответствии Единый перечень продукции ТС Классификатор государственных стандартов Общероссийский классификатор стандартов Обязательная сертификация Окп Тематические сборники Технические регламенты РФ Технические регламенты Таможенного союзаСтроительная документацияТехническая документацияПоддержать проект
Поддержать проект
Скачать базу одним архивом
Скачать обновления

ГОСТ 18986.8-73

Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления

Обозначение: ГОСТ 18986.8-73
Статус:действует
Название рус.:Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления
Название англ.:Semiconductor diodes. Method for measuring reverse recovery time
Дата актуализации текста:06.04.2015
Дата актуализации описания:01.01.2021
Дата издания:01.05.2004
Дата введения:01.01.1975
Нормативные ссылки:ГОСТ 18986.0-74
Область применения:Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановления
Список изменений:№0 от 24.06.1987 (рег. 23.06.1987) «Срок действия продлен»
№1 от 01.10.1982 (рег. 02.06.1982) «Срок действия продлен»
№2 от 01.01.1996 (рег. 12.07.1995) «Срок действия продлен»
Расположен в:Государственные стандарты Общероссийский классификатор стандартов Электроника Полупроводниковые приборы Диоды Классификатор государственных стандартов Электронная техника, радиоэлектроника и связь Элементы радиоэлектронной аппаратуры Методы испытаний. Упаковка. Маркировка
ГОСТ 18986.8-73ГОСТ 18986.8-73ГОСТ 18986.8-73ГОСТ 18986.8-73ГОСТ 18986.8-73ГОСТ 18986.8-73ГОСТ 18986.8-73
()