ГОСТ Р 57394-2017

Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность

Обозначение:	ГОСТ Р 57394-2017
Статус:	действует
Название рус.:	Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность
Название англ.:	Integrated circuits and semiconductor devices. Methods of accelerated tests for non-failure operation
Дата актуализации текста:	05.05.2017
Дата актуализации описания:	01.07.2023
Дата издания:	17.04.2017
Дата введения:	01.01.2018
Нормативные ссылки:	ГОСТ 20.57.406;ГОСТ 27.002;ГОСТ 16504;ГОСТ 18725
Область применения:	Настоящий стандарт устанавливает методы ускоренных испытаний на безотказность полупроводниковых интегральных микросхем и полупроводниковых приборов (далее - изделий), предусматривающие форсирование режимов эксплуатации
Расположен в:	Государственные стандарты Общероссийский классификатор стандартов Электроника Полупроводниковые приборы Полупроводниковые приборы в целом Интегральные схемы. Микроэлектроника Классификатор государственных стандартов Электронная техника, радиоэлектроника и связь Элементы радиоэлектронной аппаратуры Методы испытаний. Упаковка. Маркировка