На главную
|
База 1
|
База 2
|
База 3
Поиск по реквизитам
Поиск по номеру документа
Поиск по названию документа
Показать все найденные
Показать действующие
Показать заменённые
Показать отменённые
Показать принятые (но не вступившие в силу)
Показать утратившие силу в РФ
Показать просроченные
Показать действующие только в РФ
Показать документы с неизвестным статусом
Упорядочить по номеру документа
Упорядочить по дате введения
Испытания и Сертификация
Испытательный центр
Орган по сертификации
Строительная экспертиза
Обследование зданий
Тепловизионный контроль
Ультразвуковой контроль
Проектные работы
Контроль качества строительства
Нормативные базы
Государственные стандарты
Декларация о соответствии
Единый перечень продукции ТС
Классификатор государственных стандартов
Общероссийский классификатор стандартов
Обязательная сертификация
Окп
Тематические сборники
Технические регламенты РФ
Технические регламенты Таможенного союза
Строительная документация
Техническая документация
ГОСТ Р 71422-2024
Структуры эпитаксиальные и пленки диэлектрические. Метод измерения толщины эпитаксиальных слоев арсенида галлия на основе сферического шлифа
Обозначение:
ГОСТ Р 71422-2024
Статус:
принят
Название рус.:
Структуры эпитаксиальные и пленки диэлектрические. Метод измерения толщины эпитаксиальных слоев арсенида галлия на основе сферического шлифа
Название англ.:
The epitaxial structures and dielectric films. Method for measuring the thickness of gallium arsenide epitaxial layers based on a spherical section
Дата актуализации текста:
01.12.2024
Дата актуализации описания:
01.12.2024
Дата издания:
13.06.2024
Дата введения:
01.03.2025
Нормативные ссылки:
ГОСТ 12.1.004
;
ГОСТ 12.2.003
;
ГОСТ 12.3.019
;
ГОСТ 12.4.005
;
ГОСТ 12.4.121
;
ГОСТ 12.4.253
;
ГОСТ 3118
;
ГОСТ 5556
;
ГОСТ 6259
;
ГОСТ 6552
;
ГОСТ 10929
;
ГОСТ 11125
;
ГОСТ 20010
;
ГОСТ 22622
;
ГОСТ 29298
;
ГОСТ Р 55878
;
ГОСТ Р 58144
Область применения:
Настоящий стандарт распространяется на эпитаксиальные структуры арсенида галлия и устанавливает метод измерения толщины активного, контактного п+ и буферного п+ эпитаксиальных слоев в структурах галлия
Расположен в:
Государственные стандарты
Общероссийский классификатор стандартов
Телекоммуникации.аудио-и видеотехника
Радиосвязь
Оборудование для радиосвязи прочее