| Статус: | действует |
| Обозначение: | ГОСТ 4.199-85 |
| Название рус.: | СПКП. Системы информационные электроизмерительные. Комплексы измерительно-вычислительные. Номенклатура показателей |
| Дата актуализации текста: | 27.04.2010 |
| Дата добавления в базу: | 27.04.2010 |
| Дата введения: | 01.01.1987 |
| Разработан в: | Министерство приборостроения, средств автоматизации и систем управления |
| Утверждён в: | Госстандарт СССР (30.09.1985) |
| Опубликован в: | Издательство стандартов № 1985 |
| Область и условия применения: | Стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества информационно-измерительных систем и измерительно-вычислительных комплексов, включаемых в технические задания на научно-исследовательские работы (ТЗ на НИР) по определению перспектив развития ИИС и ИВК, государственные стандарты с перспективными требованиями (ГОСТ ОТТ), а также показатели качества, включаемые в разрабатываемые и пересматриваемые стандарты на ИИС и ИВК (технические задания на опытно-конструкторские работы (ТЗ на ОКР), технические условия (ТУ), карты технического уровня и качества продукции (КУ). |
| Оглавление: | 1. НОМЕНКЛАТУРА ПОКАЗАТЕЛЕЙ КАЧЕСТВА ИИС И ИВК
ПРИЛОЖЕНИЕ 1 Справочное АЛФАВИТНЫЙ ПЕРЕЧЕНЬ ПОКАЗАТЕЛЕЙ
ПРИЛОЖЕНИЕ 2 Справочное ТЕРМИНЫ, ПРИМЕНЯЕМЫЕ В СТАНДАРТЕ, И ПОЯСНЕНИЯ К НИМ
ПРИЛОЖЕНИЕ 3 Справочное ПОЯСНЕНИЯ И ПРИМЕРЫ ПРИМЕНЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЕЙ КАЧЕСТВА ИИС И ИВК
1. НОМЕНКЛАТУРА ПОКАЗАТЕЛЕЙ КАЧЕСТВА ИИС И ИВК
ПРИЛОЖЕНИЕ 1 Справочное АЛФАВИТНЫЙ ПЕРЕЧЕНЬ ПОКАЗАТЕЛЕЙ
ПРИЛОЖЕНИЕ 2 Справочное ТЕРМИНЫ, ПРИМЕНЯЕМЫЕ В СТАНДАРТЕ, И ПОЯСНЕНИЯ К НИМ
ПРИЛОЖЕНИЕ 3 Справочное ПОЯСНЕНИЯ И ПРИМЕРЫ ПРИМЕНЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЕЙ КАЧЕСТВА ИИС И ИВК |
|
| Расположен в: |
|