СТБ IEC/PAS 62596-2012
Изделия электротехнические. Определение содержания веществ ограниченного применения. Руководство по отбору проб
| Обозначение: | СТБ IEC/PAS 62596-2012 |
| Обозначение англ: | 62596-2012 |
| Статус: | не действует |
| Название рус.: | Изделия электротехнические. Определение содержания веществ ограниченного применения. Руководство по отбору проб |
| Название англ.: | Electronical products. Determination of restricted substances. Guidelines for sampling procedure |
| Дата добавления в базу: | 01.01.2018 |
| Дата актуализации: | 01.01.2021 |
| Дата окончания срока действия: | 01.07.2019 |
| Область применения: | Стандарт распространяется на электротехнические изделия, их составные части, комплектующие изделия, электронные сборочные узлы, компоненты. Стандарт устанавливает общие положения и порядок отбора проб, которые могут быть использованы для лабораторных испытаний по определению уровней содержания веществ ограниченного применения (далее — регламентированных веществ) в соответствии с методами испытаний, установленными в IЕС 62321. Ограничения на содержание регламентированных веществ отличаются в различных географических регионах и меняются со временем. В стандарте дается общее описание процесса отбора проб любого вещества, содержание которого может ограничиваться. |
| Оглавление: | Введение 1 Область применения 2 Нормативные ссылки 3 Термины, определения и сокращения 3.1 Термины и определения 3.2 Сокращения 4 Введение в отбор проб 4.1 Предварительное замечание 4.2 Требования и предосторожности в отношении регламентированных веществ 4.3 Сложность (композитный состав) электротехнических изделий и связанные с этим трудности 4.4 Стратегия отбора проб 5 Отбор проб 5.1 Предварительное замечание 5.2 Частичная разборка 5.2.1 Пример 1: Сотовый телефон типа А. Разборка без инструментов 5.2.2 Пример 2: Сотовый телефон типа В. Частичная разборка 5.3 Полная разборка 5.4 Частичное разделение 5.4.1 Предварительное замечание 5.5 Полное разделение 5.5.1 Предварительное замечание 5.5.2 Типичные примеры разделения на уровне компонентов 5.5.3 Примеры разделения на уровне основных материалов. Разделение чипов интегральных микросхем (ИМС) 5.6 Принципы отбора проб и разделения 5.6.1 Предварительное замечание 5.6.2 Требуемый размер пробы 5.6.3 Взаимосвязь размера пробы и предела обнаружения 5.6.4 Комбинированные испытания разделяемых проб 5.6.5 Неоднородные гомогенные материалы» 5.6.6 Определение мест отбора проб гомогенных материалов 6 Выводы и рекомендации Приложение А (справочное) Примеры процедур отбора проб и разделения Приложение В (справочное) Вероятность присутствия регламентированных веществ Приложение С (справочное) Комбинированные испытания и отбор комбинированных проб Приложение D (справочное) Инструменты, используемые при отборе проб Приложение Е (справочное) Использование метода РФ-скрининга при отборе проб Библиография Приложение Д.А (справочное) Сведения о соответствии государственного стандарта ссылочному международному стандарту |
| Разработан: | БелГИСС |
| Утверждён: | 12.03.2012 Госстандарт Республики Беларусь (14) |
| Издан: | БелГИСС (2012 г. ) |
| Расположен в: |
