На главную | База 1 | База 2 | База 3
Испытания и Сертификация Испытательный центр Орган по сертификации Строительная экспертиза Обследование зданий Тепловизионный контроль Ультразвуковой контроль Проектные работы Контроль качества строительства Нормативные базы Государственные стандартыСтроительная документацияТехническая документацияАвтомобильные дороги Классификатор ISO Мостостроение Национальные стандарты Строительство Технический надзор Ценообразование Экология Электроэнергия

ГОСТ Р 8.698-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра

Обозначение: ГОСТ Р 8.698-2010
Обозначение англ: GOST R 8.698-2010
Статус:введен впервые
Название рус.:Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра
Название англ.:State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer
Дата добавления в базу:01.09.2013
Дата актуализации:01.01.2021
Дата введения:01.09.2010
Область применения:Стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра: - максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм. Стандарт распространяется на: - материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды; - многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках.
Оглавление:1 Область применения
2 Нормативные ссылки
3 Термины и определения
4 Требования к погрешности измерений
5 Средства измерений и вспомогательные устройства
6 Метод измерений
7 Требования безопасности
8 Требования к квалификации операторов
9 Условия измерений
10 Подготовка и проведение измерений
11 Обработка результатов измерений
12 Контроль погрешности результатов измерений
13 Оформление результатов измерений
Приложение А (обязательное) Вычисление суммарного критерия качества функции распределения по расстояниям
Библиография
Разработан: ОАО Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
ГУ РАН Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова
ГОУВПО Московский физико-технический институт (государственный университет)
ФГУ Российский научный центр Курчатовский институт
Утверждён:10.02.2010 Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (12-ст)
Издан: Стандартинформ (2010 г. )
Стандартинформ (2019 г. )
Расположен в:Техническая документация Электроэнергия МЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ. ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ Линейные и угловые измерения Линейные и угловые измерения в целом Экология МЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ. ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ Линейные и угловые измерения Линейные и угловые измерения в целом
Нормативные ссылки:
ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010