ГОСТ 8.171-75
Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия
| Обозначение: | ГОСТ 8.171-75 |
| Обозначение англ: | GOST 8.171-75 |
| Статус: | действует |
| Название рус.: | Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия |
| Название англ.: | State system of ensuring the uniformity of measurements. Actual measures of the surface density for radiation thickness gauges. General specifications |
| Дата добавления в базу: | 01.09.2013 |
| Дата актуализации: | 01.01.2021 |
| Дата введения: | 01.01.1977 |
| Оглавление: | 1. Технические требования 2. Правила приемки и методы испытаний 3. Маркировка, упаковка, транспортирование и хранение 4. Гарантии поставщика Приложение 1. Аппаратура, измерительные приборы и дополнительные принадлежности, рекомендуемые для определения характеристик мер поверхностной плотности Приложение 2. Термины, и определения, используемые в стандарте Приложение 3. Материалы, рекомендуемые для изготовления эквивалентных мер поверхностной плотности Приложение 4. Теоретическое значение поверхностной плотности материалов, рекомендуемых для изготовления эквивалентных мер поверхностной плотности Приложение 5. Пределы допускаемых погрешностей взвешивания, обеспечивающие определение массы меры поверхностной плотности с относительной погрешностью не более 0,3% от ее действительного значения Приложение 6. Предпочтительный состав наборов эквивалентных мер поверхностной плотности Приложение 7. Расчет относительных погрешностей определения массы и площади меры поверхностной плотности для вычисления поверхностной плотности с доверительной вероятностью 0,95 |
| Утверждён: | 30.09.1975 Госстандарт СССР (USSR Gosstandart 2546) |
| Расположен в: |
