| Обозначение: |  ГОСТ 18986.4-73 |
| Статус: | действует |
| Название рус.: | Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости |
| Название англ.: | Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance |
| Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
| Дата актуализации описания: | 01.01.2021 |
| Дата издания: | 01.07.2000 |
| Дата введения: | 01.01.1975 |
| Взамен: | ГОСТ 10964-64 |
| Содержит требования: | СТ СЭВ 2769-80 |
| Нормативные ссылки: | IEC 60147-2M; ГОСТ 18986.0-74 |
| Область применения: | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод |
| Список изменений: | №1 от 01.02.1982 (рег. 26.01.1982) «Срок действия продлен» №2 от 01.03.1987 (рег. 02.10.1986) «Срок действия продлен» |
|
| Расположен в: |
|