На главную | База 1 | База 2 | База 3
Испытания и Сертификация Испытательный центр Орган по сертификации Строительная экспертиза Обследование зданий Тепловизионный контроль Ультразвуковой контроль Проектные работы Контроль качества строительства Нормативные базы Государственные стандартыДекларация о соответствии Единый перечень продукции ТС Классификатор государственных стандартов Общероссийский классификатор стандартов Обязательная сертификация Окп Тематические сборники Технические регламенты РФ Технические регламенты Таможенного союзаСтроительная документацияТехническая документация

ГОСТ 18986.4-73

Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости

Обозначение: ГОСТ 18986.4-73
Статус:действует
Название рус.:Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
Название англ.:Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance
Дата актуализации текста:06.04.2015
Дата актуализации описания:01.01.2021
Дата издания:01.07.2000
Дата введения:01.01.1975
Взамен:ГОСТ 10964-64
Содержит требования:СТ СЭВ 2769-80
Нормативные ссылки:IEC 60147-2M;ГОСТ 18986.0-74
Область применения:Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод
Список изменений:№1 от 01.02.1982 (рег. 26.01.1982) «Срок действия продлен»
№2 от 01.03.1987 (рег. 02.10.1986) «Срок действия продлен»
Расположен в:Государственные стандарты Общероссийский классификатор стандартов Электроника Полупроводниковые приборы Диоды Классификатор государственных стандартов Электронная техника, радиоэлектроника и связь Элементы радиоэлектронной аппаратуры Методы испытаний. Упаковка. Маркировка Окп Электронная техника, кроме резисторов и конденсаторов Приборы электронные, кроме микросхем интегральных и приборов пьезоэлектрических Диоды полупроводниковые Приборы полупроводниковые
ГОСТ 18986.4-73ГОСТ 18986.4-73ГОСТ 18986.4-73ГОСТ 18986.4-73ГОСТ 18986.4-73ГОСТ 18986.4-73ГОСТ 18986.4-73