На главную | База 1 | База 2 | База 3
Испытания и Сертификация Испытательный центр Орган по сертификации Строительная экспертиза Обследование зданий Тепловизионный контроль Ультразвуковой контроль Проектные работы Контроль качества строительства Нормативные базы Государственные стандартыДекларация о соответствии Единый перечень продукции ТС Классификатор государственных стандартов Общероссийский классификатор стандартов Обязательная сертификация Окп Тематические сборники Технические регламенты РФ Технические регламенты Таможенного союзаСтроительная документацияТехническая документация

ГОСТ 19834.4-79

Диоды полупроводниковые излучающие инфракрасные. Методы измерения мощности излучения

Обозначение: ГОСТ 19834.4-79
Статус:действует
Название рус.:Диоды полупроводниковые излучающие инфракрасные. Методы измерения мощности излучения
Название англ.:Semiconductor radiating infra-red diodes. Methods of measurement of radiation power
Дата актуализации текста:06.04.2015
Дата актуализации описания:01.07.2023
Дата издания:01.04.2000
Дата введения:01.07.1981
Содержит требования:СТ СЭВ 3788-82
Нормативные ссылки:ГОСТ 9411-91;ГОСТ 17616-82;ГОСТ 19834.0-75
Область применения:Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые инфракрасные излучающие диоды некогерентного излучения и устанавливает методы измерения мощности излучения от 1 до 5 Вт в диапазоне длин волн 0,7-2,0 мкм: метод непосредственной оценки и метод замещения
Список изменений:№1 от 01.07.1984 (рег. 06.12.1983) «Срок действия продлен»
№2 от 01.01.1987 (рег. 26.06.1986) «Поправка»
Расположен в:Государственные стандарты Общероссийский классификатор стандартов Электроника Полупроводниковые приборы Диоды Классификатор государственных стандартов Электронная техника, радиоэлектроника и связь Элементы радиоэлектронной аппаратуры Методы испытаний. Упаковка. Маркировка Окп Конденсаторы Конденсаторы постоянной емкости керамические
ГОСТ 19834.4-79ГОСТ 19834.4-79ГОСТ 19834.4-79ГОСТ 19834.4-79ГОСТ 19834.4-79ГОСТ 19834.4-79ГОСТ 19834.4-79