| Обозначение | Дата введения | Статус |
  ГОСТ 12.2.007.5-75 Система стандартов безопасности труда. Конденсаторы силовые. Установки конденсаторные. Требования безопасности | 01.01.1978 | действует |
Название англ.: Occupation safety standards system. Safety requirements. Power capacitors. Capacitor installations Область применения: Настоящий стандарт распространяется на: конденсаторные установки; силовые конденсаторы, предназначенные для обеспечения высокочастотной связи по линиям электропередач, для делителей напряжения и отбора мощности, для продольной компенсации, для повышения коэффициента мощности, импульсные, фильтровые; силовые конденсаторы и конденсаторные батареи для электротермических установок. Стандарт не распространяется на конденсаторы, применяемые в электронной аппаратуре Нормативные ссылки:  ГОСТ 12.2.007.0-75;ГОСТ 12.4.027-76 |
| ГОСТ 11630-84 Приборы полупроводниковые. Общие технические условия | 01.07.1985 | действует |
| Название англ.: Semiconductor devices. General specification Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые приборы, излучающие диоды и оптопары производственно-технического назначения и народного потребления, изготовляемые для народного хозяйства и экспорта Нормативные ссылки: ГОСТ 11630-70, СТ СЭВ 3992-83;СТ СЭВ 300-76 |
| ГОСТ 12661-67 Конденсаторы и резисторы электрические. Длины монтажные и диаметры проволочных выводов | 01.07.1967 | действует |
| Название англ.: Capacitors and resistors. Mounting lengths and diameters of wire leads Область применения: Настоящий стандарт распространяется на электрические конденсаторы с любым диэлектриком и на резисторы (постоянные и переменные, проволочные и непроволочные), имеющие проволочные выводы, и устанавливает ряд монтажных длин и диаметров проволочных выводов Нормативные ссылки: ГОСТ 6636-60 |
| ГОСТ 14254-96 Степени защиты, обеспечиваемые оболочками (код IP) | 01.01.1997 | заменён |
| Название англ.: Degrees of protection provided by enclosures (IP code) Область применения: Настоящий стандарт распространяется на группировку изделий, охватываемых Международной Электротехнической Комиссией (изделия для обеспечения информационных технологий, электротехнические и приборостроения), напряжением не более 72,5 кВ Нормативные ссылки: ГОСТ 14254-80, ГОСТ 14254-2015, IEC 60529(1989), ГОСТ 12.0.002-80;ГОСТ 12.1.004-91;ГОСТ 10178-85;ГОСТ 15150-69;ГОСТ 15543.1-89;ГОСТ 16962.1-89;ГОСТ 17516.1-90;ГОСТ 24682-81;ГОСТ 24719-81;ГОСТ Р 51330.20-99 |
| ГОСТ 16962-71 Изделия электронной техники и электротехники. Механические и климатические воздействия. Требования и методы испытаний | 01.07.1971 | действует |
| Название англ.: Electronic and electrical equipment. Mechanical and climatic influence. Requirements and test methods Область применения: Настоящий стандарт распространяется на изделия электронной техники и электротехники, приведенные в приложении 2, технические задания на разработку которых утверждены до 1 января 1982 г., и устанавливает требования к изделиям и методы испытаний в части воздействия механических и климатических факторов. Стандарт не устанавливает требований и методов испытаний в части климатических факторов, действующих в открытом космическом пространстве Нормативные ссылки: ГОСТ 15543.1-89 в части требований по климатическим воздействиям к электротехническим изделиям народнохозяйственного назначения; ГОСТ 16962.1-89 в части методов климатических испытаний электротехнических изделий народнохозяйственного назначения; ГОСТ 16962.2-90 в части методов механических испытаний электротехнических изделий народнохозяйственного назначения; ГОСТ 17516.1-90 в части требований по механическим воздействиям к электротехническим изделиям народнохозяйственного назначения, ГОСТ 15150-69;ГОСТ 14255-69;ГОСТ 6613-86;ГОСТ 4233-77;ГОСТ 8.002-86 ;ГОСТ 8.049-73;ГОСТ 8.513-84 |
| ГОСТ 17465-80 Диоды полупроводниковые. Основные параметры | 01.01.1982 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Basic parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые полупроводниковые диоды, выпрямительные (кроме диодов Шоттки), импульсные, стабилитроны (стабисторы), варикапы, диоды СВЧ, выпрямительные столбы и импульсные диодные матрицы (сборки) Нормативные ссылки: ГОСТ 16963-71, ГОСТ 17465-72 в части пп. 1 - 12, 16 - 22, ГОСТ 16962-71 |
| ГОСТ 18986.14-85 Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений | 01.07.1986 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Methods for measuring differential and slope resistances Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений: метод замещения; резонансный метод с параллельным контуром; резонансный метод с последовательным контуром; мостовой метод. Стандарт не распространяется на стабилитроны Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.14-75;ГОСТ 19656.8-74, CT CЭB 2769-80, ГОСТ 20.57.406-81;ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 19656.0-74 |
| ГОСТ 18986.24-83 Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения | 01.07.1984 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Measurement method of breakdown voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения пробивного напряжения Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 19656.10-88 Диоды полупроводниковые сверхвысокочастотные переключательные и ограничительные. Методы измерения сопротивлений потерь | 01.07.1989 | действует |
| Название англ.: Semiconductor microwave switching and limiter diodes. Methods of measuring loss resistances Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые переключательные и ограничительные сверхвысокочастотные диоды и устанавливает следующие методы измерения сопротивлений потерь в диапазоне частот 0,3-10 ГГц: 1) сопротивления потерь при низком уровне СВЧ мощности ограничительных СВЧ диодов; 2) прямого сопротивления потерь переключательных и ограничительных СВЧ диодов и обратного сопротивления потерь переключательных СВЧ диодов: а) метод измерительной линии с подвижным зондом; б) метод измерительной линии с фиксированным зондом; в) резонаторный метод Нормативные ссылки: ГОСТ 19656.10-75;ГОСТ 19656.11-75, ГОСТ 18986.4-73;ГОСТ 19656.0-74 |
| ГОСТ 19834.0-75 Излучатели полупроводниковые. Общие требования при измерении параметров | 01.07.1976 | действует |
| Название англ.: Semiconductor emitters. Methods for measurement of parameters. General principles Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели и устанавливает положения, общие для стандартов на методы измерений спектрофотометрических, преобразовательных и электрических параметров полупроводниковых излучателей. Стандарт входит в комплекс государственных стандартов на методы измерения параметров полупроводниковых излучателей Нормативные ссылки: ГОСТ 8.023-86;ГОСТ 12.0.004-79;ГОСТ 12.1.004-85;ГОСТ 12.1.030-81;ГОСТ 12.2.007.0-75;ГОСТ 12.3.019-80;ГОСТ 20.57.406-81;ГОСТ 10863-70;ГОСТ 18986.1-73;ГОСТ 18986.2-73;ГОСТ 18986.3-73 |