На главную | База 1 | База 2 | База 3
Испытания и Сертификация Испытательный центр Орган по сертификации Строительная экспертиза Обследование зданий Тепловизионный контроль Ультразвуковой контроль Проектные работы Контроль качества строительства Скачать базы Государственные стандартыДекларация о соответствии Единый перечень продукции ТС Классификатор государственных стандартов Общероссийский классификатор стандартов Обязательная сертификация Окп Тематические сборники Технические регламенты РФ Технические регламенты Таможенного союзаСтроительная документацияТехническая документацияПоддержать проект
Поддержать проект
Скачать базу одним архивом
Скачать обновления

ГОСТ Р 8.698-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра

Обозначение: ГОСТ Р 8.698-2010
Статус:действует
Название рус.:Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра
Название англ.:State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer
Дата актуализации текста:01.01.2021
Дата актуализации описания:01.07.2023
Дата издания:15.07.2019
Дата введения:01.09.2010
Нормативные ссылки:ГОСТ 12.1.005-88;ГОСТ 12.1.045-84
Область применения:Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра: - максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм. Настоящий стандарт распространяется на: - материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды; - многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках
Расположен в:Государственные стандарты Общероссийский классификатор стандартов Метрология и измерения. Физические явления Линейные и угловые измерения Линейные и угловые измерения в целом Классификатор государственных стандартов Общетехнические и организационно-методические стандарты Государственная система измерений Методики выполнения измерений Тематические сборники Государственная система обеспечения единства измерений.
ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010
()