На главную | База 1 | База 2 | База 3
Испытания и Сертификация Испытательный центр Орган по сертификации Строительная экспертиза Обследование зданий Тепловизионный контроль Ультразвуковой контроль Проектные работы Контроль качества строительства Нормативные базы Государственные стандартыДекларация о соответствии Единый перечень продукции ТС Классификатор государственных стандартов Общероссийский классификатор стандартов Обязательная сертификация Окп Тематические сборники Технические регламенты РФ Технические регламенты Таможенного союзаСтроительная документацияТехническая документация

ГОСТ Р 8.698-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра

Обозначение: ГОСТ Р 8.698-2010
Статус:действует
Название рус.:Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра
Название англ.:State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer
Дата актуализации текста:01.01.2021
Дата актуализации описания:01.07.2023
Дата издания:15.07.2019
Дата введения:01.09.2010
Нормативные ссылки:ГОСТ 12.1.005-88;ГОСТ 12.1.045-84
Область применения:Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра: - максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм. Настоящий стандарт распространяется на: - материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды; - многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках
Расположен в:Государственные стандарты Общероссийский классификатор стандартов Метрология и измерения. Физические явления Линейные и угловые измерения Линейные и угловые измерения в целом Классификатор государственных стандартов Общетехнические и организационно-методические стандарты Государственная система измерений Методики выполнения измерений Тематические сборники Государственная система обеспечения единства измерений.
ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010