ГОСТ Р 57394-2017

Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность

Обозначение:	ГОСТ Р 57394-2017
Обозначение англ:	GOST R 57394-2017
Статус:	введен впервые
Название рус.:	Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность
Название англ.:	Integrated circuits and semiconductor devices. Methods of accelerated tests for non-failure operation
Дата добавления в базу:	01.01.2018
Дата актуализации:	01.01.2021
Дата введения:	01.01.2018
Область применения:	Стандарт устанавливает методы ускоренных испытаний на безотказность полупроводниковых интегральных микросхем и полупроводниковых приборов, предусматривающие форсирование режимов эксплуатации.
Оглавление:	1 Область применения 2 Нормативные ссылки 3 Термины, определения и сокращения 4 Общие положения 5 Подготовка к введению ускоренных испытаний на безотказность 6 Определение режима ускоренных кратковременных испытаний на безотказность 7 Определение режима и продолжительности ускоренных длительных испытаний на безотказность Приложение А (справочное) Модели коэффициентов ускорения для различных механизмов отказов Приложение Б (рекомендуемое) Определение коэффициента ускорения отказов изделий с учетом нескольких механизмов отказов Приложение В (рекомендуемое) Определение констант ускорения n и альфа в моделях коэффициента ускорения оттока и напряжения Приложение Г (рекомендуемое) Определение значения энергии активации на основе параллельных испытаний выборок в различных режимах Приложение Д (рекомендуемое) Определение значения энергии активации по накопленным данным Приложение Е (рекомендуемое) Определение значения энергии активации по результатам испытаний со ступенчато-возрастающей нагрузкой Приложение Ж (рекомендуемое) Определение значения энергии активации по результатам электротермотренировки при ступенчато-возрастающей нагрузке Приложение И (рекомендуемое) Форма обобщения результатов испытаний при определении режима ускоренных кратковременных испытаний на безотказность Приложение К (рекомендуемое) Форма программы работ по определению режимов ускоренных испытаний Приложение Л (обязательное) Методы определения границ области допустимого форсирования Приложение М (рекомендуемое) Форма решения об утверждении режимов ускоренных кратковременных и длительных испытаний на безотказность и введения этих испытаний в систему испытаний на безотказность Приложение Н (рекомендуемое) Форма программы и методики ускоренных испытаний на безотказность Приложение П (справочное) Примеры расчета режимов и продолжительности ускоренных испытаний на безотказность Библиография
Разработан:	АО РНИИ Электронстандарт АО ЦКБ Дейтон ФГУП МНИИРИП АО Росэлектроника
Утверждён:	27.02.2017 Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (74-ст)
Издан:	Стандартинформ (2017 г. )
Расположен в:	Техническая документация Электроэнергия ЭЛЕКТРОНИКА Интегральные схемы. Микроэлектроника Полупроводниковые приборы Полупроводниковые приборы в целом Экология ЭЛЕКТРОНИКА Интегральные схемы. Микроэлектроника Полупроводниковые приборы Полупроводниковые приборы в целом
Нормативные ссылки:	ГОСТ 16504-81 «Система государственных испытаний продукции. Испытания и контроль качества продукции. Основные термины и определения» ГОСТ 18725-83 «Микросхемы интегральные. Общие технические условия» ГОСТ 20.57.406-81 «Комплексная система контроля качества. Изделия электронной техники, квантовой электроники и электротехнические. Методы испытаний» ГОСТ 27.002-2015 «Надежность в технике. Термины и определения»