Обозначение: | ГОСТ 24523.1-80 |
Обозначение англ: | GOST 24523.1-80 |
Статус: | введен впервые |
Название рус.: | Периклаз электротехнический. Метод определения двуокиси кремния |
Название англ.: | Electrotechnical periclase. Method for the determination of silicon dioxide |
Дата добавления в базу: | 01.09.2013 |
Дата актуализации: | 01.01.2021 |
Дата введения: | 01.07.1983 |
Область применения: | Стандарт распространяется на электротехнический периклаз и устанавливает фотометрический метод определения масовых долей двуокиси кремния в диапазоне от 0,2 до 3,0 %. |
Оглавление: | 1 Общие требования 2 Аппаратура, реактивы и растворы 3 Проведение анализа 4 Обработка результатов |
Разработан: | Министерство черной металлургии СССР
|
Утверждён: | 30.12.1980 Государственный комитет СССР по стандартам (USSR National Committee on Standards 6281)
|
Издан: | ИПК Издательство стандартов (2004 г. )
|
Расположен в: |
|
Список изменений: | |
Нормативные ссылки: | |