|
||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Обозначение: | ГОСТ 24523.1-80 |
| Обозначение англ: | GOST 24523.1-80 |
| Статус: | введен впервые |
| Название рус.: | Периклаз электротехнический. Метод определения двуокиси кремния |
| Название англ.: | Electrotechnical periclase. Method for the determination of silicon dioxide |
| Дата добавления в базу: | 01.09.2013 |
| Дата актуализации: | 01.01.2021 |
| Дата введения: | 01.07.1983 |
| Область применения: | Стандарт распространяется на электротехнический периклаз и устанавливает фотометрический метод определения масовых долей двуокиси кремния в диапазоне от 0,2 до 3,0 %. |
| Оглавление: | 1 Общие требования 2 Аппаратура, реактивы и растворы 3 Проведение анализа 4 Обработка результатов |
| Разработан: | Министерство черной металлургии СССР |
| Утверждён: | 30.12.1980 Государственный комитет СССР по стандартам (USSR National Committee on Standards 6281) |
| Издан: | ИПК Издательство стандартов (2004 г. ) |
| Расположен в: | |
| Список изменений: |
|
| Нормативные ссылки: |
|




Текстовое изменение № 1 от 01.07.1988