Обозначение: | ГОСТ 19834.4-79 |
Обозначение англ: | GOST 19834.4-79 |
Статус: | действует |
Название рус.: | Диоды полупроводниковые излучающие инфракрасные. Методы измерения мощности излучения |
Название англ.: | Semiconductor rediating infra-red diodes. Methods of measurement of radiation power |
Дата добавления в базу: | 01.09.2013 |
Дата актуализации: | 01.01.2021 |
Дата введения: | 01.07.1981 |
Область применения: | Стандарт распространяется на полупроводниковые инфракрасные излучающие диоды некогерентного излучения и устанавливает методы измерения мощности излучения от 1 до 5 Вт в диапазоне длин волн 0,7 - 2,0 мкм: метод непосредственной оценки и метод замещения. |
Оглавление: | 1 Метод непосредственной оценки 2 Аппаратура 3 Подготовка и проведение измерений 4 Обработка результатов 5 Показатели точности измерений 6 Метод замещения Приложение 1 (рекомендуемое) Устройства и приспособления, применяемые при измерении мощности излучения Приложение 2 (справочное) Информационные данные о соответствии ГОСТ 19834.4-79 СТ СЭВ 3788-82 |
Утверждён: | 27.12.1979 Госстандарт СССР (USSR Gosstandart 5087)
|
Издан: | Издательство стандартов (1979 г. ) ИПК Издательство стандартов (2000 г. )
|
Расположен в: |
|