Обозначение: | ГОСТ 19834.3-76 |
Обозначение англ: | GOST 19834.3-76 |
Статус: | действует |
Название рус.: | Излучатели полупроводниковые. Метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения |
Название англ.: | Semiconductor emitters. Methods of measurement for relative spectral energy distribution and spectral bandwidth |
Дата добавления в базу: | 01.09.2013 |
Дата актуализации: | 01.01.2021 |
Дата введения: | 01.07.1977 |
Область применения: | Стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели некогерентного излучения и устанавливает метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения. |
Оглавление: | 1а Принцип и режим измерения 1 Аппаратура 2 Подготовка и проведение измерений 3 Обработка результатов 4 Показатели точности измерений Приложение 1 (справочное) Информационные данные Приложение 2 (рекомендуемое) Аппаратура для измерения спектрального состава излучения полупроводниковых излучателей Приложение 3 (рекомендуемое) Зависимость относительной спектральной плотности излучения образцового источника е лямбда 0 от длины волны лямбда |
Утверждён: | 13.04.1976 Госстандарт СССР (USSR Gosstandart 810)
|
Издан: | Издательство стандартов (1984 г. )
|
Расположен в: |
|
Нормативные ссылки: | |