На главную | База 1 | База 2 | База 3
Испытания и Сертификация Испытательный центр Орган по сертификации Строительная экспертиза Обследование зданий Тепловизионный контроль Ультразвуковой контроль Проектные работы Контроль качества строительства Скачать базы Государственные стандартыСтроительная документацияТехническая документацияАвтомобильные дороги Классификатор ISO Мостостроение Национальные стандарты Строительство Технический надзор Ценообразование Экология ЭлектроэнергияПоддержать проект
Поддержать проект
Скачать базу одним архивом
Скачать обновления

ГОСТ 18986.8-73

Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления

Обозначение: ГОСТ 18986.8-73
Обозначение англ: GOST 18986.8-73
Статус:введен впервые
Название рус.:Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления
Название англ.:Semiconductor diodes. Method for measuring reverse recovery time
Дата добавления в базу:01.09.2013
Дата актуализации:01.01.2021
Дата введения:01.01.1975
Область применения:Стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановления.
Оглавление:1 Условия и режим измерений
2 Аппаратура
3 Проведение измерений
4 Показатели точности измерений
Утверждён:13.07.1973 Госстандарт СССР (USSR Gosstandart 1723)
Издан: Издательство стандартов (1973 г. )
ИПК Издательство стандартов (1998 г. )
Расположен в:Техническая документация Электроэнергия ЭЛЕКТРОНИКА Полупроводниковые приборы Диоды Экология ЭЛЕКТРОНИКА Полупроводниковые приборы Диоды
Нормативные ссылки:
ГОСТ 18986.8-73ГОСТ 18986.8-73ГОСТ 18986.8-73ГОСТ 18986.8-73ГОСТ 18986.8-73ГОСТ 18986.8-73ГОСТ 18986.8-73