На главную | База 1 | База 2 | База 3
Испытания и Сертификация Испытательный центр Орган по сертификации Строительная экспертиза Обследование зданий Тепловизионный контроль Ультразвуковой контроль Проектные работы Контроль качества строительства Нормативные базы Государственные стандартыСтроительная документацияТехническая документацияАвтомобильные дороги Классификатор ISO Мостостроение Национальные стандарты Строительство Технический надзор Ценообразование Экология Электроэнергия

ГОСТ 18986.7-73

Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда

Обозначение: ГОСТ 18986.7-73
Обозначение англ: GOST 18986.7-73
Статус:действует
Название рус.:Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
Название англ.:Semiconductor diodes. Method for measuring life time
Дата добавления в базу:01.09.2013
Дата актуализации:01.01.2021
Дата введения:01.01.1975
Область применения:Стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ. Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: - для импульсных и смесительных диодов СВЧ; - для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ.
Оглавление:1 Метод измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда для импульсных и смесительных диодов СВЧ
2 Метод измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ
Утверждён:13.07.1973 Госстандарт СССР (USSR Gosstandart 1723)
Издан: Издательство стандартов (1973 г. )
ИПК Издательство стандартов (2004 г. )
Расположен в:Техническая документация Электроэнергия ЭЛЕКТРОНИКА Полупроводниковые приборы Диоды Экология ЭЛЕКТРОНИКА Полупроводниковые приборы Диоды
Нормативные ссылки:
ГОСТ 18986.7-73ГОСТ 18986.7-73ГОСТ 18986.7-73ГОСТ 18986.7-73ГОСТ 18986.7-73ГОСТ 18986.7-73