|
||||||||||||||||||||||||||||||||
| Обозначение: | ГОСТ 18986.20-77 |
| Обозначение англ: | GOST 18986.20-77 |
| Статус: | действует |
| Название рус.: | Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим |
| Название англ.: | Semiconductor diodes. Reference zener diodes. Method for measuring warm up time |
| Дата добавления в базу: | 01.09.2013 |
| Дата актуализации: | 01.01.2021 |
| Дата введения: | 01.01.1979 |
| Область применения: | Стандарт распространяется на полупроводниковые прецизионные стабилитроны, имеющие нормированную временную нестабильность напряжения стабилизации и устанавливает метод измерения времени выхода стабилитронов на режим t вых. и требования безопасности.. |
| Оглавление: | 1 Аппаратура 2 Подготовка к измерению 3 Проведение измерений 4 Обработка результатов Приложение (обязательное) Выбор оптимального интервала времени и определение погрешностей |
| Утверждён: | 26.10.1977 Госстандарт СССР (USSR Gosstandart 2485) |
| Издан: | Издательство стандартов (1977 г. ) ИПК Издательство стандартов (2002 г. ) Госстандарт России (1983 г. ) |
| Расположен в: | |
| Список изменений: |
|
| Нормативные ссылки: |










