Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора
Название англ.:
Semiconductor tunnel diodes. Methods for measuring peak point current, valley point current, peak point voltage, valley point voltage, projected peak point voltage
Дата добавления в базу:
01.09.2013
Дата актуализации:
01.01.2021
Дата введения:
01.07.1976
Область применения:
Стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения параметров вольтамперной характеристики диода: пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора.
Оглавление:
1 Аппаратура 2 Метод 1 3 Метод 2
Утверждён:
27.12.1974 Госстандарт СССР (USSR Gosstandart 2824)
Издан:
Издательство стандартов (1975 г. ) ИПК Издательство стандартов (2004 г. )