На главную | База 1 | База 2 | База 3
Сертификация продукции Сертификат соответствия Пожарный сертификат Протокол испытаний Строительство Составление смет Проектные работы Строительные работы Строительная экспертиза Обследование зданий Оценка недвижимости Контроль качества строительства Промышленная безопасность Тепловизионный контроль Ультразвуковой контроль Георадарное сканирование Скачать базы Государственные стандартыСтроительная документацияТехническая документацияАвтомобильные дороги Классификатор ISO Мостостроение Национальные стандарты Строительство Технический надзор Ценообразование Экология Электроэнергия

ГОСТ 17772-88

Приемники излучения полупроводниковые фотоэлектрические и фотоприемные устройства. Методы измерения фотоэлектрических параметров и определения характеристик

Обозначение: ГОСТ 17772-88
Обозначение англ: GOST 17772-88
Статус:взамен
Название рус.:Приемники излучения полупроводниковые фотоэлектрические и фотоприемные устройства. Методы измерения фотоэлектрических параметров и определения характеристик
Название англ.:Semiconducting photoelectric detectors and receiving photoelectric devices. Methods of measuring photoelectric parameters and determining characteristics
Дата добавления в базу:01.09.2013
Дата актуализации:01.02.2020
Дата введения:01.07.1989
Область применения:Стандарт распространяется на фотоэлектрические полупроводниковые приемники излучения (ФЭПП) и фотоприемные устройства (ФПУ) на их основе, чувствительные к излучению в диапазоне длин волн от 0,2 до 100 мкм. Стандарт не распространяется на ФЭПП и ФПУ, подлежащие аттестации в качестве средств измерений. Стандарт устанавливает методы измерения фотоэлектрических параметров и определения характеристик: а) на немодулированном излучении; б) на модулированном излучении; в) на импульсном потоке; г) определение характеристик ФЭПП или ФПУ.
Оглавление:1 Методы измерения
   1.1 Метод измерения темнового, общего тока и фототока ФЭПП
   1.2 Метод измерения темнового сопротивления ФЭПП
   1.3 Метод измерения дифференциального электрического сопротивления ФЭПП
   1.4 Метод измерения статической токовой чувствительности ФЭПП на немодулированном излучении
   1.5 Метод измерения рабочего напряжения лавинных фотодиодов
   1.6 Метод измерения коэффициента умножения темнового тока и фототока лавинного фотодиода
   1.7 Метод измерения емкости ФЭПП
   1.8 Метод измерения напряжения (тока) фотосигнала и напряжения (тока) шума ФЭПП (ФПУ)
   1.9 Метод определения эффективной фоточувствительной площади
   1.10 Метод измерения статической чувствительности, порога чувствительности и обнаружительной способности ФЭПП (ФПУ) на модулированном излучении
   1.11 Метод измерения импульсной вольтовой (токовой) чувствительности
   1.12 Метод определения собственной постоянной времени, времени нарастания и времени спада
   1.13 Метод определения вольт-амперной характеристики
   1.14 Метод определения плоского угла зрения
   1.15 Метод определения линейной зоны и дифференциальной крутизны координатной характеристики координатного фотодиода
   1.16 Метод определения временного дрейфа нулевой точки координатного фотодиода
   1.17 Метод определения коэффициента фотоэлектрической связи многоэлементного ФЭПП (ФПУ)
   1.18 Метод определения неравномерности чувствительности ФЭПП (ФПУ) по элементу
   1.19 Метод определения энергетической характеристики фототока и напряжения фотосигнала
   1.20 Метод определения динамического диапазона
   1.21 Метод определения частотных характеристик ФЭПП (ФПУ): статической чувствительности, удельного порога чувствительности, удельной обнаружительной способности
   1.22 Метод определения относительной спектральной характеристики чувствительности
   1.23 Метод определения фоновых характеристик ФЭПП (ФПУ): напряжения (тока) шума, напряжения (тока) фотосигнала, вольтовой (токовой) чувствительности, удельной обнаружительной способности и удельного порога чувствительности
   1.24 Метод определения температурной зависимости напряжения (тока) шума, статической вольтовой (токовой) чувствительности, удельного порога чувствительности и удельной обнаружительной способности ФЭПП (ФПУ)
   1.25 Метод определения времени выхода на режим и времени автономной работы охлаждаемых ФЭПП (ФПУ)
   1.26 Метод измерения нестабильности фотоэлектрических параметров ФЭПП (ФПУ)
2 Требования безопасности
Приложение 1
Приложение 2
Приложение 3
Приложение 4
Приложение 5
Приложение 6
Приложение 7
Приложение 8
Информационные данные
Утверждён:29.06.1988 Государственный комитет СССР по стандартам (USSR National Committee on Standards 2513)
Издан: Издательство стандартов (1988 г. )
Расположен в:Техническая документация Электроэнергия ЭЛЕКТРОНИКА Оптоэлектроника. Лазерное оборудование Полупроводниковые приборы Полупроводниковые приборы прочие ИСПЫТАНИЯ Электрические и электронные испытания Экология ЭЛЕКТРОНИКА Оптоэлектроника. Лазерное оборудование Полупроводниковые приборы Полупроводниковые приборы прочие ИСПЫТАНИЯ Электрические и электронные испытания
Заменяет собой:
  • ГОСТ 17772-79 «Приемники излучения и устройства приемные полупроводниковые фотоэлектрические. Методы измерения фотоэлектрических параметров и определения характеристик» (ИУС 11-1988)
Нормативные ссылки:
ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88ГОСТ 17772-88