Обозначение: | ГОСТ 8.593-2009 |
Обозначение англ: | GOST 8.593-2009 |
Статус: | введен впервые |
Название рус.: | Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки |
Название англ.: | State system for ensuring the uniformity of measurements. Atomic-force scanning probe microscopes. Method for verification |
Дата добавления в базу: | 01.09.2013 |
Дата актуализации: | 01.01.2021 |
Дата введения: | 01.11.2010 |
Область применения: | Стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 в степени минус девять до 10 в степени минус шесть м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ 8.591 и ГОСТ 8.592. |
Оглавление: | 1 Область применения 2 Нормативные ссылки 3 Термины и определения 4 Операции и средства поверки 5 Требования к квалификации поверителей 6 Требования безопасности 7 Условия поверки и подготовка к ней 8 Проведение поверки 9 Обработка результатов измерений 10 Оформление результатов поверки |
Разработан: | ОАО Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума ФГУ Российский научный центр Курчатовский институт ГОУВПО Московский физико-технический институт (государственный университет)
|
Утверждён: | 11.11.2009 Межгосударственный Совет по стандартизации, метрологии и сертификации (Inter-Governmental Council on Standardization, Metrology, and Certification 36) 05.04.2010 Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (57-ст)
|
Издан: | Стандартинформ (2010 г. )
|
Расположен в: |
|
Нормативные ссылки: | |