| Обозначение | Дата введения | Статус |
  ГОСТ Р 71065-2023 Приборы электронно-лучевые, преобразующие электрические сигналы в световые. Система параметров | 01.03.2024 | принят |
Название англ.: Cathode-ray devices. Parameters system Область применения: Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые электронно-лучевые приборы (ЭЛП), преобразующие электрические сигналы в световые (осциллографические и индикаторные электронно-лучевые приборы, в том числе запоминающие, просвечивающие электронно-лучевые приборы, кинескопы проекционные, для фоторегистрации и монохромные для видеоконтрольных устройств), предназначенные для использования в радиоэлектронных устройствах. Стандарт устанавливает состав параметров и типовых характеристик ЭЛП, подлежащие включению в общие технические условия (ОТУ) и технические условия (ТУ) при их разработке или пересмотре Нормативные ссылки:  ГОСТ 13820;ГОСТ 17791 |
| ГОСТ Р 71066-2023 Трубки электронно-лучевые передающие телевизионные. Система параметров | 01.03.2024 | принят |
| Название англ.: Cathode-ray camera tubes. Parameters system Область применения: Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые телевизионные передающие электронно-лучевые трубки (видиконы, супервидиконы, суперортиконы, изоконы, многоканальные трубки) (далее — трубки), предназначенные для использования в радиоэлектронных устройствах. Настоящий стандарт устанавливает состав параметров и типовых характеристик трубок, подлежащих включению в общие технические условия и технические условия при их разработке или пересмотре Нормативные ссылки: ГОСТ 13820;ГОСТ 17791 |
| ГОСТ Р 71067-2023 Стабилитроны и ограничители напряжения полупроводниковые. Система параметров | 01.03.2024 | принят |
| Название англ.: Zener diodes and semiconductor voltage limiters. Parameters system Область применения: Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые полупроводниковые стабилитроны и ограничители напряжения (далее – стабилитроны и ограничители напряжения) и устанавливает состав параметров и типовых характеристик, подлежащих включению в технические условия (ТУ) или стандарты на стабилитроны и ограничители напряжения конкретных типов при их разработке или пересмотре. Настоящий стандарт следует применять для выбора параметров при разработке технических заданий (ТЗ) на научно-исследовательские и опытно-конструкторские работы, программ испытаний, опытных образцов Нормативные ссылки: ГОСТ 25529;ГОСТ Р 57436 |
| ГОСТ Р 71068-2023 Микросхемы интегральные микропроцессорные. Система параметров | 01.03.2024 | принят |
| Название англ.: Integrated microprocessor circuit. Parameters system Область применения: Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые интегральные микропроцессорные микросхемы и устанавливает состав параметров и типовых характеристик интегральных микропроцессорных микросхемы, (далее – микросхемы), подлежащие включению в технические условия (ТУ) или стандарты на микросхемы конкретных типов при их разработке или пересмотре. Настоящий стандарт следует применять для выбора параметров при разработке технических заданий на научно-исследовательские и опытно-конструкторские работы, программ испытаний опытных образцов. Настоящий стандарт предназначен для применения предприятиями, организациями и другими субъектами научной и хозяйственной деятельности независимо от форм собственности и подчинения, а также федеральными органами исполнительной власти Российской Федерации, участвующими в разработке, производстве, эксплуатации микросхем в соответствии с действующим законодательством Нормативные ссылки: ГОСТ Р 57441 |
| ГОСТ Р 71069-2023 Излучатели полупроводниковые. Система параметров | 01.03.2024 | принят |
| Название англ.: Semiconductor emitters. Parameters system Область применения: Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые полупроводниковые излучатели инфракрасного диапазона излучения (далее – излучатели) и устанавливает состав параметров и типовых характеристик, подлежащих включению в технические условия (ТУ) или стандарты на излучатели конкретных типов при их разработке или пересмотре. Настоящий стандарт следует применять для выбора параметров при разработке технических заданий (ТЗ) на научно-исследовательские и опытно-конструкторские работы, программ испытаний опытных образцов Нормативные ссылки: ГОСТ 27299 |
| ГОСТ Р 71070-2023 Приборы электронно-полупроводниковые. Термины и определения | 01.03.2024 | принят |
| Название англ.: Electronic semiconductor devices. Terms and definitions Область применения: Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные электронно-полупроводниковые приборы, применяемые в радиоэлектронной аппаратуре, и устанавливает термины и определения понятий в области электровакуумных электронно-полупроводниковых приборов. Настоящий стандарт не распространяется на приборы сверхвысокочастотного диапазона (СВЧ). Термины, установленные настоящим стандартом, предназначены для применения во всех видах документации и литературы в области электро-полупроводниковых приборов, входящих в сферу работ по стандартизации и (или) использующих результаты этих работ. Настоящий стандарт предназначен для применения предприятиями, организациями и другими субъектами научной и производственной деятельности независимо от форм собственности и подчинения, а также федеральными органами исполнительной власти Российской Федерации, участвующими в разработке, производстве, эксплуатации электровакуумных электронно-полупроводниковых приборов в соответствии с действующим законодательством |
| ГОСТ Р 71071-2023 Микросхемы интегральные. Схемы задержки. Система параметров | 01.03.2024 | принят |
| Название англ.: Integrated circuits. Delay circuits. Parameters system Область применения: Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые интегральные микросхемы схем задержек (далее – микросхемы). Стандарт устанавливает состав параметров и типовых характеристик микросхем, подлежащих включению в технические условия (ТУ) или стандарты на микросхемы при их разработке или пересмотре. Стандарт следует применять для выбора параметров при разработке технических заданий на научно-исследовательские и опытно-конструкторские работы, программ испытаний опытных образцов Нормативные ссылки: ГОСТ Р 57441 |
| ГОСТ Р 71072-2023 Элементы кристаллические из ниобата лития и танталата лития. Условные обозначения срезов | 01.03.2024 | принят |
| Название англ.: Crystalline elements from lithium niobate and lithium tantalate. Slices designations Область применения: Настоящий стандарт распространяется на срезы кристаллических элементов из ниобата лития (ЛН) и танталата лития (ЛТ), предназначенные для вновь разрабатываемых и модернизируемых пьезоэлектрических резонаторов и фильтров с объемными и поверхностными колебаниями любого вида, и устанавливает правила первоначальной ориентировки кристаллов ЛН и ЛТ и условные обозначения срезов кристаллических элементов из ЛН, ЛТ. Настоящий стандарт предназначен для применения предприятиями, организациями и другими субъектами научной и производственной деятельности независимо от форм собственности и подчинения, а также федеральными органами исполнительной власти Российской Федерации, участвующими в разработке, производстве, эксплуатации пьезоэлектрических приборов в соответствии с действующим законодательством Нормативные ссылки: ГОСТ Р 57438 |
| ГОСТ Р 71073-2023 Материалы стеклокристаллические. Термины и определения | 01.03.2024 | принят |
| Название англ.: Glass-crystalline materials. Terms and definitions Область применения: Настоящий стандарт распространяется на стеклокристаллические материалы, применяемые в радиоэлектронной аппаратуре, и устанавливает термины и определения понятий в области стеклокристаллических материалов (ситалла, фотоситалла и стеклокристаллического цемента) и изделий из них. Термины, установленные настоящим стандартом, предназначены для применения во всех видах документации и литературы в области стеклокристаллических материалов, входящих в сферу работ по стандартизации и (или) использующих результаты этих работ |
| ГОСТ Р 71074-2023 Микросхемы интегральные. Запоминающие устройства на цилиндрических магнитных доменах. Термины, определения и буквенные обозначения параметров | 01.03.2024 | принят |
| Название англ.: Integrated circuits. Magnetic bubble integrated circuits memory. Terms, definitions and letter symbols characteristics Область применения: Настоящий стандарт устанавливает термины, определения и буквенные обозначения параметров интегральных микросхем запоминающих устройств на цилиндрических магнитных доменах (далее – микросхемы ЗУ ЦМД), применяемых в радиоэлектронной аппаратуре. Термины и буквенные обозначения, установленные настоящим стандартом, предназначены для применения во всех видах документации и литературы в области интегральных микросхем ЗУ ЦМД, входящих в сферу действия работ по стандартизации и (или) использующих результаты этих работ |