| Обозначение | Дата введения | Статус |
  ГОСТ 24613.16-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения начального остаточного напряжения коммутаторов аналоговых сигналов | 01.07.1978 | действует |
Название англ.: Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring initial residual voltage of analogue signal commutators Область применения: Настоящий стандарт распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов интегральных оптоэлектронных микросхем и устанавливает метод измерения начального остаточного напряжения Нормативные ссылки:  ГОСТ 24613.0-81 |
| ГОСТ 24613.17-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного дифференциального сопротивления коммутаторов аналоговых сигналов | 01.07.1978 | действует |
| Название англ.: Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring output differential resistance of analogue signal commutators Область применения: Настоящий стандарт распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов интегральных оптоэлектронных микросхем и устанавливает метод измерения выходного дифференциального сопротивления Нормативные ссылки: ГОСТ 24613.0-81 |
| ГОСТ 27124-86 Резонаторы пьезоэектрические производственно-технического назначения и для бытовой радиоэлектронной аппаратуры. Основные параметры; | 01.01.1988 | действует |
| Название англ.: Piezoelectric rezonators for industrial and domestic radioelectronic equipment application. Basic parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на пьезоэлектрические резонаторы производственно-технического назначения и для бытовой радиоэлектронной аппаратуры и устанавливает ряды значений их основных параметров |
| ГОСТ 27780-88 Микросхемы интегральные. Коммутаторы и ключи. Методы измерения электрических параметров | 01.01.1990 | действует |
| Название англ.: Integrated circurts. Multiplexers and switches. Methods for measurement of electric parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на микросхемы класса коммутаторов и ключей и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров микросхем Нормативные ссылки: IEC 60748-1(1984), ГОСТ 12.1.030-81;ГОСТ 12.2.007.0-75;ГОСТ 12.3.019-80;ГОСТ 20.57.406-81;ГОСТ 19480-74;ГОСТ 19799-74;ГОСТ 22261-82 |
| ГОСТ 30350-96 Микросхемы интегральные аналоговые. Общие требования к измерительной аппаратуре и условиям измерения электрических параметров | 01.07.1998 | действует |
| Название англ.: Analog integrated circuits. General requirements to apparatus and conditions for measurement of electrical parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на интегральные аналоговые микросхемы и устанавливает общие требования к условиям измерения электрических параметров, а также требования безопасности к измерительной аппаратуре Нормативные ссылки: ГОСТ 19799-74 в части общих требований к аппаратуре |
| ГОСТ Р 50044-92 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые для поверхностного монтажа. Требования к конструкции | 01.07.1993 | заменён |
| Название англ.: Integrated microcircuits and semiconductor device service mounted technology. Requirements to packages Область применения: Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы (ИС) и полупроводниковые приборы (ПП), предназначенные для использования в технологии поверхностного монтажа, и устанавливает требования к их перспективным конструкциям и выбору унифицированных размеров. Стандарт является обязательным документом при разработке изделий для поверхностного монтажа, обеспечивающих выполнение требований автоматизированной сборки аппаратуры Нормативные ссылки: ГОСТ Р 50044-2009, IEC 60191-6(1990), ГОСТ 17467-88;ГОСТ 18472-88;ГОСТ 25347-82 |
| ГОСТ Р 54844-2011 Микросхемы интегральные. Основные размеры | 01.09.2013 | действует |
| Область применения: Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы, микросборки, многокристальные модули в корпусах и устанавливает их габаритные, установочные и присоединительные размеры. Настоящий стандарт предназначен для применения предприятиями, организациями и другими субъектами научной и хозяйственной деятельности независимо от форм собственности и подчинения, а также федеральными органами исполнительной власти Российской Федерации, участвующими в разработке, производстве, эксплуатации микросхем в соответствии с действующим законодательством Нормативные ссылки: ГОСТ Р 50044-2009;ГОСТ 17021-88 |
| ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001 Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем | 01.07.2002 | действует |
| Название англ.: Semiconductor devices integrated circuits. Part 11. Section 1. Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits Область применения: Настоящий стандарт устанавливает испытания, которые проводят с целью проверки внутренних материалов, изготовления и сборки интегральных схем на соответствие требованиям применяемых технических условий на изделия конкретных типов Нормативные ссылки: IEC 60748-11-1(1992) |