| Обозначение | Дата введения | Статус |
  ГОСТ Р 8.691-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Стандартные образцы материалов (веществ). Содержание паспортов и этикеток | 01.01.2012 | введен впервые |
| Область применения: Стандарт устанавливает общие требования к содержанию паспортов и этикеток к стандартным образцам, применяемым в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений. |
 ГОСТ Р 8.692-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Требования к компетентности провайдеров проверок квалификации испытательных лабораторий посредством межлабораторных сравнительных испытаний | 01.01.2011 | отменен |
| Область применения: Стандарт устанавливает требования к компетентности провайдеров проверок квалификации испытательных лабораторий и связанных с провайдерами субподрядчиков. Стандарт предоставляет также рекомендации для любой организации, которая устанавливает требования к компетентности провайдеров проверок квалификации. |
| ГОСТ Р 8.693-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Средства измерений объемной активности искусственных радиоактивных аэрозолей. Методика поверки | 01.01.2011 | отменен |
| Область применения: Стандарт распространяется на средства измерений объемной активности искусственных радиоактивных аэрозолей по ГОСТ 22251 в диапазоне измерений от 1•10 в степени минус 2 до 4•10 в степени минус 7 Бк•м в степени минус 3 с погрешностью 40 % – 60 % в соответствии с требованиями ГОСТ 8.090 и устанавливает методы и средства их первичной и периодической поверок. Межповерочный интервал - один год. |
| ГОСТ Р 8.694-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Стандартные образцы материалов (веществ). Общие статистические принципы определения метрологических характеристик | 01.07.2012 | отменен |
| Область применения: Стандарт устанавливает общие и статистические принципы разработки, определения метрологических характеристик стандартных образцов. Положения стандарта способствуют пониманию и развитию методов оценивания аттестованных значений стандартных образцов, их неопределенностей, установлению метрологической прослеживаемости стандартных образцов. Стандартные образцы, метрологические характеристики которых определены в соответствии с настоящим стандартом, сопровождаемые паспортом стандартных образцов, являются аттестованными стандартными образцами. Стандарт описывает принципы определения метрологических характеристик аттестованных стандартных образцов, обеспечивающих сравнимость, точность результатов измерений, метрологическую прослеживаемость результатов измерений к национальным или международным эталонам или установленным опорным значениям. |
| ГОСТ Р 8.695-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Металлы и сплавы. Измерения твердости по Виккерсу. Часть 2. Поверка и калибровка твердомеров | 01.01.2011 | введен впервые |
| Область применения: Стандарт распространяется на метод поверки твердомеров для измерения твердости металлов и сплавов по шкалам Виккерса, в соответствии с ГОСТ Р ИСО 6507-1. Он определяет метод поэлементной поверки твердомеров для контроля основных функций работы твердомера и метод поверки по эталонным мерам твердости, предназначенный для контроля твердомера в целом. Метод поверки по эталонным мерам твердости может использоваться для контроля твердомера в процессе эксплуатации. Если твердомер позволяет проводить измерения по другим методам твердости, то он должен независимо поверяться по шкалам каждого из этих методов. Этот документ применим также и для портативных твердомеров. |
| ГОСТ Р 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра | 01.09.2010 | введен впервые |
| Область применения: Стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции пучка электронов на кристаллах с помощью электронного дифрактометра. Стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 20,00 нм и распределения токовых интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных от кристаллов в диапазоне от 10 в ст. минус 14 до 10 в ст. минус 6 А. Стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки кристалла и индекса Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния. |
| ГОСТ Р 8.697-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа | 01.09.2010 | введен впервые |
| Область применения: Стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и иных образцах толщиной не более 200 нм с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 10,00 нм в режиме дифракции и в диапазоне линейных размеров от 0,2 до 10,0 нм в режиме изображения. |
| ГОСТ Р 8.698-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра | 01.09.2010 | введен впервые |
| Область применения: Стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра:
- максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;
- распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;
- общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм.
Стандарт распространяется на:
- материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды;
- многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках. |
| ГОСТ Р 8.699-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Величины, единицы, шкалы измерений, используемые в глобальной навигационной спутниковой системе | 15.04.2010 | введен впервые |
| Область применения: Стандарт распространяется на величины, единицы и шкалы измерений, используемые в глобальной навигационной спутниковой системе (ГЛОНАСС) в целях определения местоположения (взаиморасположения), направления, скорости движения и момента времени навигационной аппаратуры потребителя ГЛОНАСС. Для измеряемых величин установлены: - наименование измеряемой величины; - наименования единиц измеряемых величин или шкал измерений; - обозначения единиц измерения величин. Для измеряемых качественных (номинативных) свойств установлены: - наименование измеряемого свойства; - наименования и обозначения шкал измерений; - используемые в шкалах единицы измерений или условные обозначения. Используемые в стандарте наименования единиц измерений и их обозначения соответствуют принятым Международной системой единиц (СИ) и допущены к применению в Российской Федерации. |
| ГОСТ Р 8.700-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа | 01.11.2010 | введен впервые |
| Область применения: Стандарт устанавливает методику измерений эффективной высоты шероховатости изотропных поверхностей твердых тел с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа. Стандарт применяют при измерениях эффективной высоты шероховатости поверхностей твердых тел в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус пять) м. |