| Обозначение | Дата введения | Статус |
  ГОСТ Р 8.690-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Использование программ проверки квалификации посредством межлабораторных сравнительных испытаний при аккредитации испытательных лабораторий | 01.01.2011 | действует |
Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Use of Proficiency Testing by interlaboratory comparisons for Accreditation in Testing Область применения: Настоящий стандарт предназначен для обеспечения органов по аккредитации, организаций, осуществляющих практическую деятельность по аккредитации, и испытательных лабораторий последовательной методикой для эффективного использования программ проверки квалификации при аккредитации. Настоящий стандарт предназначен также: - для разъяснения органам по аккредитации того, как программы проверки квалификации могут быть использованы в качестве инструмента при аккредитации испытательных лабораторий; - для достижения согласованного понимания вопросов, связанных с использованием программ проверки квалификации при аккредитации, органами по аккредитации, испытательными лабораториями и провайдерами проверок квалификации. Настоящий стандарт устанавливает руководство по использованию программ проверки квалификации посредством межлабораторных сравнительных испытаний в качестве одного из средств доказательства компетентности испытательных лабораторий в их области аккредитации Нормативные ссылки:  ГОСТ Р ИСО 5725-1;ГОСТ Р ИСО 5725-2;ГОСТ Р ИСО 5725-3;ГОСТ Р ИСО 5725-4;ГОСТ Р ИСО 5725-5;ГОСТ Р ИСО 5725-6;ГОСТ Р ИСО/МЭК 17011;ГОСТ ИСО/МЭК 17025;ГОСТ ISO 17043;ГОСТ Р 8.315 |
| ГОСТ Р 8.691-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Стандартные образцы материалов (веществ). Содержание паспортов и этикеток | 01.01.2012 | действует |
| Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Certified reference materials. Contents of certificates and labels Область применения: Настоящий стандарт устанавливает общие требования к содержанию паспортов и этикеток к стандартным образцам, применяемым в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений Нормативные ссылки: ISO Guide 31:2000 |
| ГОСТ Р 8.692-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Требования к компетентности провайдеров проверок квалификации испытательных лабораторий посредством межлабораторных сравнительных испытаний | 01.01.2011 | отменён |
| Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Requirements for the competence of providers of proficiency testing for test laboratories by interlaboratory comparisons Область применения: Настоящий стандарт устанавливает требования к компетентности провайдеров проверок квалификации испытательных лабораторий и связанных с провайдерами субподрядчиков. Настоящий стандарт предоставляет также рекомендации для любой организации, которая устанавливает требования к компетентности провайдеров проверок квалификации Нормативные ссылки: ГОСТ ISO/IEC 17043-2013, ГОСТ Р ИСО 5725-6-2002;ГОСТ Р ИСО 9000-2001;ГОСТ Р ИСО 9001-2008;ГОСТ Р ИСО 15189-2006;ГОСТ Р ИСО/МЭК 17025-2006;ГОСТ Р 8.690-2009;ГОСТ 8.315-97;ГОСТ 8.531-2002 |
| ГОСТ Р 8.693-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Средства измерений объемной активности искусственных радиоактивных аэрозолей. Методика поверки | 01.01.2011 | отменён |
| Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Measuring instruments of artificial radioactive aerosols volumetric activity. Verification procedure Область применения: Настоящий стандарт распространяется на средства измерений объемной активности искусственных радиоактивных аэрозолей по ГОСТ 22251 в диапазоне измерений от 1 • 10 в степени минус 2 до 4 • 10 в степени минус 7 Бк•м в степени минус 3 с погрешностью 40% – 60 % в соответствии с требованиями ГОСТ 8.090 и устанавливает методы и средства их первичной и периодической поверок. Межповерочный интервал - один год Нормативные ссылки: ГОСТ 8.527-2013, ГОСТ 8.090-79;ГОСТ 8.033-96;ГОСТ 22251-89;ГОСТ 13045-81 |
| ГОСТ Р 8.694-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Стандартные образцы материалов (веществ). Общие статистические принципы определения метрологических характеристик | 01.07.2012 | отменён |
| Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Standard reference materials (substances). General statistical principles of determination of metrological characteristics Область применения: Настоящий стандарт устанавливает общие и статистические принципы разработки, определения метрологических характеристик стандартных образцов. Положения настоящего стандарта способствуют пониманию и развитию методов оценивания аттестованных значений стандартных образцов, их неопределенностей, установлению метрологической прослеживаемости стандартных образцов. Стандартные образцы, метрологические характеристики которых определены в соответствии с настоящим стандартом, сопровождаемые паспортом стандартных образцов, являются аттестованными стандартными образцами. Настоящий стандарт описывает принципы определения метрологических характеристик аттестованных стандартных образцов, обеспечивающих сравнимость, точность результатов измерений, метрологическую прослеживаемость результатов измерений к национальным или международным эталонам или установленным опорным значениям Нормативные ссылки: ISO Guide 35:2006, ГОСТ ISO Guide 35-2015, ГОСТ Р 8.691-2010;ГОСТ Р ИСО 5725-1-2002;ГОСТ Р ИСО 5725-2-2002;ГОСТ Р ИСО 5725-3-2002;ГОСТ Р ИСО 5725-4-2002;ГОСТ Р 50779.10-2000;ГОСТ 8.315-97;ГОСТ 8.531-2002 |
| ГОСТ Р 8.695-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Металлы и сплавы. Измерения твердости по Виккерсу. Часть 2. Поверка и калибровка твердомеров | 01.01.2011 | действует |
| Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Metals and alloys. Vickers hardness test. Part 2. Verification and calibration of testing machines Область применения: Настоящий стандарт распространяется на метод поверки твердомеров для измерения твердости металлов и сплавов по шкалам Виккерса, в соответствии с ГОСТ Р ИСО 6507-1. Он определяет метод поэлементной поверки твердомеров для контроля основных функций работы твердомера и метод поверки по эталонным мерам твердости, предназначенный для контроля твердомера в целом. Метод поверки по эталонным мерам твердости может использоваться для контроля твердомера в процессе эксплуатации. Если твердомер позволяет проводить измерения по другим методам твердости, то он должен независимо поверяться по шкалам каждого из этих методов. Этот документ применим также и для портативных твердомеров Нормативные ссылки: ISO 6507-2:2005, ISO 6507-3:2005;ГОСТ Р ИСО 3878-91;ГОСТ Р ИСО 6507-1-2007;ГОСТ 8.335-2004;ГОСТ 9500-84 |
| ГОСТ Р 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра | 01.09.2010 | действует |
| Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Interplanar spacings in crystals and the intensity distribution in diffraction patterns. Method for measurement by means of an electron diffractometer Область применения: Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции пучка электронов на кристаллах с помощью электронного дифрактометра. Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 20,00 нм и распределения токовых интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных от кристаллов в диапазоне от 10 в ст. минус14 до 10 в ст. минус 6 А. Настоящий стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки кристалла и индекса Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния Нормативные ссылки: ГОСТ 12.1.005;ГОСТ 12.1.045 |
| ГОСТ Р 8.697-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа | 01.09.2010 | действует |
| Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Interpenar spacings in crystals. Method for measurement by means of a transmission electron microscope Область применения: Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и иных образцах толщиной не более 200 нм с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 10,00 нм в режиме дифракции и в диапазоне линейных размеров от 0,2 до 10,0 нм в режиме изображения Нормативные ссылки: ГОСТ 12.1.005-88;ГОСТ 12.1.045-84 |
| ГОСТ Р 8.698-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра | 01.09.2010 | действует |
| Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer Область применения: Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра: - максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм. Настоящий стандарт распространяется на: - материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды; - многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках Нормативные ссылки: ГОСТ 12.1.005-88;ГОСТ 12.1.045-84 |
| ГОСТ Р 8.699-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Величины, единицы, шкалы измерений, используемые в глобальной навигационной спутниковой системе | 15.04.2010 | действует |
| Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Quantities, units, scales of measurement, which are used in global navigation satellite system Область применения: Настоящий стандарт распространяется на величины, единицы и шкалы измерений, используемые в глобальной навигационной спутниковой системе (ГЛОНАСС) в целях определения местоположения (взаиморасположения), направления, скорости движения и момента времени навигационной аппаратуры потребителя ГЛОНАСС. Для измеряемых величин установлены: - наименование измеряемой величины; - наименования единиц измеряемых величин или шкал измерений; - обозначения единиц измерения величин. Для измеряемых качественных (номинативных) свойств установлены: - наименование измеряемого свойства; - наименования и обозначения шкал измерений; - используемые в шкалах единицы измерений или условные обозначения. Используемые в стандарте наименования единиц измерений и их обозначения соответствуют принятым Международной системой единиц (СИ) и допущены к применению в Российской Федерации Нормативные ссылки: ГОСТ 8.567 |