| Обозначение | Дата введения | Статус |
   ГОСТ 25529-82 Диоды полупроводниковые. Термины, определения и буквенные обозначения параметров | 01.01.1984 | действует |
Область применения: Стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины, определения и буквенные обозначения параметров полупроводниковых диодов. Заменяет собой:  ГОСТ 18216-72 «Диоды туннельные. Электрические параметры. Термины, определения и буквенные обозначения» - ГОСТ 18994-73 «Стабилизаторы полупроводниковые. Электрические параметры. Термины, определения и буквенные обозначения»
- ГОСТ 20004-74 «Диоды полупроводниковые. Электрические параметры общие. Термины, определения и буквенные обозначения»
- ГОСТ 20005-74 «Диоды полупроводниковые. Варикапы. Электрические параметры. Термины, определения и буквенные обозначения»
- ГОСТ 20331-74 «Диоды полупроводниковые сверхвысокочастотные. Электрические параметры. Термины, определения и буквенные обозначения»
- ГОСТ 21154-75 «Диоды полупроводниковые. Генераторы шума. Электрические параметры. Термины, определения и буквенные обозначения»
|
| ГОСТ 25532-89 Приборы с переносом заряда фоточувствительные. Термины и определения | 01.01.1991 | действует |
Область применения: Стандарт устанавливает термины и определения понятий фоточувствительных приборов с переносом заряда. Заменяет собой: - ГОСТ 25532-82 «Приборы фоточувствительные с переносом заряда. Термины и определения»
|
| ГОСТ 25677-83 Преобразователи импульсного лазерного излучения электронно-оптические измерительные. Основные параметры. Методы измерений | 01.07.1984 | действует |
| |
| ГОСТ 25678-83 Средства измерений энергии импульсного лазерного излучения. Виды. Основные параметры. Методы измерений основных параметров | 01.07.1984 | отменен в рф |
| Область применения: Стандарт распространяется на средства измерений (СИ) энергии однократных импульсов лазерного излучения и устанавливает их виды, основные параметры и методы измерении основных параметров при изменении параметров исследуемою излучения в пределах:
0,4—2; 10,6 мкм - рабочие длины волн,
0,0000000010—500 Дж — диапазон значении s-nepiHn излучения,
0,000000010—1 с - длительность импульса излучения.
Стандарт по распространяется на измерительные импульсные лазеры. |
| ГОСТ 25763-83 Источники высокоинтенсивного оптического излучения газоразрядные для накачки лазеров. Основные размеры | 01.07.1984 | действует |
| |
| ГОСТ 25774-83 Преобразователи электронно-оптические. Метод определения амплитудно-частотной характеристики | 01.07.1984 | действует |
| |
| ГОСТ 25786-83 Лазеры. Методы измерений средней мощности, средней мощности импульса, относительной нестабильности средней мощности лазерного излучения | 01.07.1984 | действует |
| |
| ГОСТ 25793-83 Трубки осцилографические широкополосные. Методы измерения параметров | 01.07.1984 | действует |
| |
| ГОСТ 25810-83 Контакты магнитоуправляемые герметизированные. Методы измерения электрических параметров | 01.07.1984 | действует |
Область применения: Стандарт распространяется на герметизированные магнитоуправляемые контакты и устанавливает общие требования к проведению измерений, требования безопасности и методы измерения электрических параметров. Заменяет собой: - ГОСТ 20476.0-75 «Контакты магнитоуправляемые герметизированные. Методы измерения электрических параметров. Общие положения»
- ГОСТ 20476.1-75 «Контакты магнитоуправляемые герметизированные. Метод измерения магнитодвижущей силы срабатывания, отпускания и коэффициента возврата»
- ГОСТ 20476.2-75 «Контакты магнитоуправляемые герметизированные. Метод испытания изоляции на электрическую прочность»
- ГОСТ 20476.3-75 «Контакты магнитоуправляемые герметизированные. Метод измерения временных параметров»
- ГОСТ 20922-75 «Контакты магнитоуправляемые герметизированные. Методы измерения сопротивления изоляции»
|
| ГОСТ 25811-83 Средства измерений средней мощности лазерного излучения. Типы. Основные параметры. Методы измерений | 01.07.1984 | отменен в рф |
| Область применения: Стандарт распространяется на рабочие средства измерений средней мощности непрерывного и импульсно-модулированного лазерного излучения с частотой следования импульсов более 2 Гц и длительностью импульса от 0,00000000010 до 1.
Стандарт устанавливает типы, основные параметры и методы измерений основных параметров в пределах значений этих параметров, установленных в стандарте. |