| Обозначение | Дата введения | Статус |
  МИ 31-75 Государственная система обеспечения единства измерений. Методика поверки образцов белой поверхности | - | не действует |
| Область применения: Методика распространяется на образцы белой поверхности из молочного стекла МС-14, МС-20, имеющие полированную или матированную поверхность и служащие образцовыми и рабочими мерами, а также на образцы к лейкометру фирмы Цейсс, и устанавливает методы и средства их первичной и периодической поверки |
| МИ 34-75 Государственная система обеспечения единства измерений. Методика поверки компараторов цвета | - | не действует |
| Область применения: Методика распространяется на фотоэлектрические компараторы цвета типов ФКЦ-Ш, ФКЦШ-М и ЭКЦ-1 и устанавливает методы и средства их первичной и периодической поверок. Методика не распространяется на компараторы типа ЭКЦ-Л, предназначенные для измерения координат цвета люминесцирующих образцов. Методика соответствует рекомендации по стандартизации СЭВ РС 2265-69. |
 МИ 36-75 Методика поверки отсчетных микроскопов типа МПБ-2 | - | действует |
| Область применения: Методика распространяется на отсчетные микроскопы типа МПБ-2, предназначенные для измерения диаметра отпечатка (лунки), образуемого на поверхности металлов при определении твердости по методу Бринелля, и устанавливает методы и средства их первичной и периодической поверок. |
| МИ 62-75 Методика поверки промышленных автоматических рефрактометров типа ДРП | - | действует |
| Область применения: Методика распространяется на промышленные автоматические рефрактометры типа ДРП по ГОСТ 14941-69 и устанавливает методы и средства их первичной и периодической поверок. |
| МИ 88-76 Методика применения ГОСТ 8.050-73 "Нормальные условия выполнения линейных и угловых измерений" | 29.03.1976 | действует |
| Область применения: Методика распространяется на нормальные условия выполнения измерений длин в диапазоне от 1 до 500 мм и углов с длиной меньшей стороны до 500 мм и устанавливает способы их нормирования, а также методы анализа и средства контроля в соответствии с требованиями ГОСТ 8.050-73. |
| МИ 116-77 Методика измерения показателей визирования телескопов пирометров полного излучения | - | действует |
| Область применения: Методика распространяется на термоэлектрические телескопы пирометров полного (суммарного) излучения по ГОСТ 6923-74 и устанавливает методы и средства измерения показатели визирования при исследовании телескопов и проведении государственных испытаний. |
| МИ 133-77 Государственная система обеспечения единства измерений. Методика поверки визирных измерительных труб типа ППС | - | не действует |
| Область применения: Методика распространяется на визирные измерительные трубы типа ППС, находящиеся в эксплуатации, выпускаемые из производства и ремонта, и устанавливает методы и средства их поверки. |
| МИ 149-78 Методика поверки рабочих пирометров спектрального отношения | - | действует |
| Область применения: Методика распространяется на рабочие пирометры, измеряющие цветовую температуру по отношению спектральной плотности излучения а двух ограниченных спектральных участках в интервале от 0,47 до 2,2 мкм с линзовой или зеркальной оптическими системами с пределами измерения от 300 до 2500 °С, и устанавливает методы и средства первичной и периодической поверок. |
| МИ 181-79 Методика поверки оптических зубомеров | - | действует |
| Область применения: Методика распространяется на оптические зубомеры и устанавливает методы и средства их первичной и периодической поверок. |
| МИ 215-80 Государственная система обеспечения единства измерений. Методика поверки измерительных поляризационных компенсаторов и полярископов-поляриметров | - | действует |
| Область применения: Методика распространяется на поляризационные измерительные компенсаторы и полярископы-поляриметры со следующими характеристиками: компенсаторы Бабине типов КПБ-5, КПБ-10, КПБ-30 с пределами измерений от 0 до плюс минус (2750, 5500, 16500) нм с погрешностью измерений не более 10, 15, 30 нм соответственно; компенсаторы Солейля типа КС-5 с пределами измерений от 0 до плюс минус 2750 нм с погрешностью измерений не более 2 нм; компенсаторы Сенармона типа КРК с пределами измерений от 0 до 550 нм с погрешностью не более 10 нм; полярископы-поляриметры типов ПКС-125 и ПКС-250 с пределами измерений от 0 до 550 нм с погрешностью измерений не более 10 нм и устанавливает методы и средства их периодической поверки. |