| Обозначение | Дата введения | Статус |
  ГОСТ 18980-2015 Ригели железобетонные для многоэтажных зданий. Технические условия | 01.01.2017 | действует |
Область применения: Настоящий стандарт устанавливает технические требования, методы контроля и правила приемки, транспортирования и хранения железобетонных ригелей, изготовляемых из тяжелого бетона. Ригели предназначаются для каркасов многоэтажных общественных зданий, производственных, административных и бытовых зданий промышленных предприятий Нормативные ссылки:  ГОСТ 18980-90, ГОСТ 535;ГОСТ 7473;ГОСТ 8829;ГОСТ 10060;ГОСТ 10180;ГОСТ 10181;ГОСТ 10922;ГОСТ 12730.0;ГОСТ 12730.5;ГОСТ 13015;ГОСТ 14098;ГОСТ 16504;ГОСТ 17624;ГОСТ 17625;ГОСТ 18105;ГОСТ 22362;ГОСТ 22690;ГОСТ 22904;ГОСТ 23009;ГОСТ 23858;ГОСТ 24297;ГОСТ 26134;ГОСТ 26633;ГОСТ 23279;ГОСТ 31384;ГОСТ Р 57997-2017 |
| ГОСТ 18981-73 Ключи трубные рычажные. Технические условия | 01.01.1975 | действует |
| Название англ.: Pipe toggle wrenches. Specifications Область применения: Настоящий стандарт распространяется на трубные рычажные ключи, предназначенные для захватывания и вращения труб и соединительных частей трубопроводов, изготовляемые для нужд народного хозяйства и экспорта. Стандарт не распространяется на ключи, изготовляемые из материалов, применяемых для работы во взрывоопасных условиях Нормативные ссылки: ОСТ НКТМ 6813-39, ГОСТ 9.032-74;ГОСТ 9.301-86;ГОСТ 9.302-88;ГОСТ 9.303-84;ГОСТ 9.306-85;ГОСТ 1062-80;ГОСТ 1435-90;ГОСТ 2789-73;ГОСТ 4380-86;ГОСТ 7505-89;ГОСТ 7829-70;ГОСТ 9013-59;ГОСТ 9378-75;ГОСТ 10299-80;ГОСТ 11516-79;ГОСТ 18088-83;ГОСТ 21474-75;ГОСТ 22133-86;ГОСТ 26810-86 |
| ГОСТ 18986.0-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения | 01.01.1976 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Measuring methods for electrical parameters. General requirements Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды: выпрямительные, универсальные, испульсные, туннельные, варикапы, стабилизаторы, генераторы шума и диоды СВЧ ( в части низкочастотных и статических параметров) и устанавливает общие требования для методов измерения электрических параметров Нормативные ссылки: ГОСТ 12.0.004-90;ГОСТ 12.1.004-91;ГОСТ 12.1.030-81;ГОСТ 12.2.007.0-75;ГОСТ 12.3.019-80;ГОСТ 20.57.406-81;СТ СЭВ 1622-79 |
| ГОСТ 18986.1-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока | 01.01.1975 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Method for measuring direct reverse current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения постоянного обратного тока. Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки Нормативные ссылки: ГОСТ 10963-64, СТ СЭВ 2769-80, IEC 60147-2B;ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.3-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока | 01.01.1975 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Method of measuring of direct forward voltage and direct forward current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока. Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки Нормативные ссылки: ГОСТ 10961-64, СТ СЭВ 2769-80, IEC 60147-23;ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.4-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости | 01.01.1975 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод Нормативные ссылки: ГОСТ 10964-64, СТ СЭВ 2769-80, IEC 60147-2M;ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.5-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения | 01.01.1975 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Method for measuring transition time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 19656.0-74 |
| ГОСТ 18986.6-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления | 01.01.1975 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Method for measuring recovery charge Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления и устанавливает метод измерения заряда восстановления Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3198-81, ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.7-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда | 01.01.1975 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Methods for measuring life time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ. Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 18986.6-73;ГОСТ 19656.0-74 |
| ГОСТ 18986.8-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления | 01.01.1975 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Method for measuring reverse recovery time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановления Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74 |