| Обозначение | Дата введения | Статус |
  ГОСТ 18986.15-75 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации | 01.01.1977 | действует |
Название англ.: Reference diodes. Method of measuring stabilization voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения напряжения стабилизации Нормативные ссылки:  ГОСТ 14093-68, СТ СЭВ 3200-81, IEC 60147-2M;ГОСТ 8.401-80;ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.16-72 Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока | 01.01.1974 | действует |
| Название англ.: Rectifier diodes. Methods of measuring average forward voltage and average reverse current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые выпрямительные диоды малой и средней мощности, полупроводниковые выпрямительные столбы и устанавливает метод измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока Нормативные ссылки: IEC 60147-2A;ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.17-73 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации | 01.07.1974 | действует |
| Название англ.: Reference diodes. Method of measuring of temperature coefficient of working voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3200-81, IEC 60147-2M;ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.18-73 Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости | 01.07.1974 | действует |
| Название англ.: Variable capacitance diodes. Method of measuring temperature coefficient of capacitance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы, предназначенные для работы в диапазоне частот 0,25-1000 Гц, и устанавливает метод измерения температурного коэффициента емкости Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3199-81, ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 18986.4-73 |
| ГОСТ 18986.19-73 Варикапы. Метод измерения добротности | 01.01.1975 | действует |
| Название англ.: Variable capacitance diodes. Method for measuring the quality factor Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы емкостью более 4 пФ в диапазоне частот 0,25-1000 МГц и устанавливает два метода измерения добротности варикапов Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74;СТ СЭВ 3199-81 |
| ГОСТ 18986.20-77 Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим | 01.01.1979 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Reference zener diodes. Method for measuring warm up time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые прецизионные стабилитроны, имеющие нормированную временную нестабильность напряжения стабилизации и устанавливает метод измерения времени выхода стабилитронов на режим tвых. и требования безопасности Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.21-78 Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации | 01.01.1980 | действует |
| Название англ.: Reference diodes and stabistors. Method for measuring time drift of working voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и стабисторы и устанавливает метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.22-78 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления | 01.01.1980 | действует |
| Название англ.: Reference diodes. Methods for measuring differential resistance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения дифференциального сопротивления: на переменном токе; на постоянном токе Нормативные ссылки: ГОСТ 15603-70, СТ СЭВ 3200-81, IEC 60147-2M;ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума | 01.01.1982 | действует |
| Название англ.: Zener diodes. Methods for measuring spectral noise density Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения спектральной плотности шума: метод 1 применяют при измерении спектральной плотности шума стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 5 Гц - 30 МГц; метод 2 применяют при измерении спектральной плотности шума прецизионных стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 0,01-5 Гц Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.24-83 Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения | 01.07.1984 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Measurement method of breakdown voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения пробивного напряжения Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74 |