| Обозначение | Дата введения | Статус |
  ГОСТ 19798-74 Фотоэлементы. Общие технические условия | 01.07.1975 | действует |
Название англ.: Photocells. General specifications Область применения: Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и фотоумножители, содержащие один каскад усиления, предназначенные для преобразования сигналов оптического излучения в электрические и изготавливаемые для нужд народного хозяйства и для экспорта Нормативные ссылки:  ГОСТ 20.57.406-81;ГОСТ 7842-71;ГОСТ 7933-75;ГОСТ 8828-75;ГОСТ 15150-69;ГОСТ 17485-77;ГОСТ 18242-72;ГОСТ 21316.0-75;ГОСТ 21316.1-75;ГОСТ 21316.2-75;ГОСТ 21316.3-75;ГОСТ 21316.4-75;ГОСТ 21316.5-75;ГОСТ 21316.6-75;ГОСТ 21316.7-75;ГОСТ 21493-76;ГОСТ 23088-80;ГОСТ 23145-78;ГОСТ 24385-80;ГОСТ 25359-82;ГОСТ 25360-82;ГОСТ 25467-82;ГОСТ 25486-82 |
| ГОСТ 19799-74 Микросхемы интегральные аналоговые. Методы измерения электрических параметров и определения характеристик | 01.01.1976 | действует |
| Название англ.: Analog integrated circuits. Methods for measurement of electric parameters and determination of responses Область применения: Настоящий стандарт распространяется на интегральные аналоговые микросхемы и устанавливает методы измерения электрических параметров и определения характеристик. Стандарт не распространяется на коммутаторы и ключи, на компараторы напряжения в части методов 1580, 1581, 2500, 2501 и операционные усилители Нормативные ссылки: ГОСТ 30350-96 в части общих требований к аппаратуре, ГОСТ 19480-89;ГОСТ 30350-96;СТ СЭВ 1622-79;СТ СЭВ 3411-81 |
| ГОСТ 19834.0-75 Излучатели полупроводниковые. Общие требования при измерении параметров | 01.07.1976 | действует |
| Название англ.: Semiconductor emitters. Methods for measurement of parameters. General principles Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели и устанавливает положения, общие для стандартов на методы измерений спектрофотометрических, преобразовательных и электрических параметров полупроводниковых излучателей. Стандарт входит в комплекс государственных стандартов на методы измерения параметров полупроводниковых излучателей Нормативные ссылки: ГОСТ 8.023-86;ГОСТ 12.0.004-79;ГОСТ 12.1.004-85;ГОСТ 12.1.030-81;ГОСТ 12.2.007.0-75;ГОСТ 12.3.019-80;ГОСТ 20.57.406-81;ГОСТ 10863-70;ГОСТ 18986.1-73;ГОСТ 18986.2-73;ГОСТ 18986.3-73 |
| ГОСТ 19834.2-74 Излучатели полупроводниковые. Методы измерения силы излучения и энергетической яркости | 01.01.1976 | действует |
| Название англ.: Semiconductor emitters. Methods for measurement of radiant intensity and radiance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели некогерентного излучения, в том числе бескорпусные и устанавливает методы измерения силы излучения: метод непосредственной оценки;метод замещения;методы измерения энергетической яркости: прямой и косвенный Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3788-82, ГОСТ 19834.0-75 |
| ГОСТ 19834.3-76 Излучатели полупроводниковые. Метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения | 01.07.1977 | действует |
| Название англ.: Semiconductor emitters. Methods for measuring of relative spectral energy distribution and spectral bandwidth Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели некогерентного излучения и устанавливает метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3788-82, ГОСТ 8.023-86;ГОСТ 19834.0-75;МИ 1685-87 |
| ГОСТ 19834.4-79 Диоды полупроводниковые излучающие инфракрасные. Методы измерения мощности излучения | 01.07.1981 | действует |
| Название англ.: Semiconductor radiating infra-red diodes. Methods of measurement of radiation power Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые инфракрасные излучающие диоды некогерентного излучения и устанавливает методы измерения мощности излучения от 1 до 5 Вт в диапазоне длин волн 0,7-2,0 мкм: метод непосредственной оценки и метод замещения Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3788-82, ГОСТ 9411-91;ГОСТ 17616-82;ГОСТ 19834.0-75 |
| ГОСТ 19834.5-80 Диоды полупроводниковые инфракрасные излучающие. Метод измерения временных параметров импульса излучения | 01.01.1982 | действует |
| Название англ.: Semiconductor emitting infra-red diodes. Method for measuring of radiation pulse switching times Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые инфракрасные излучающие диоды, в том числе бескорпусные, и устанавливает метод измерения временных параметров импульса излучения: времени нарастания, времени спада, времени задержки при включении, времени задержки при выключении Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3788-82, ГОСТ 19834.0-75 |
| ГОСТ 20215-84 Диоды полупроводниковые сверхвысокочастотные. Общие технические условия | 01.01.1986 | действует |
| Название англ.: Semiconductor microwave diodes. General specifications Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые сверхвысокочастотные диоды, изготовляемые для народного хозяйства и экспорта. Стандарт не распространяется на бескорпусные сверхвысокочастотные диоды Нормативные ссылки: ГОСТ 20215-74, ГОСТ 8.051-81;ГОСТ 9.076-77;ГОСТ 20.57.406-81;ГОСТ 14192-77;ГОСТ 15150-69;ГОСТ 17465-80;ГОСТ 18472-82;ГОСТ 19656.0-74;ГОСТ 19656.1-74;ГОСТ 19656.2-74;ГОСТ 19656.3-74;ГОСТ 19656.4-74;ГОСТ 19656.5-74;ГОСТ 19656.6-74;ГОСТ 19656.7-74;ГОСТ 19656.9-79;ГОСТ 19656.10-75;ГОСТ 19656.11-75;ГОСТ 19656.12-76;ГОСТ 19656.13-76;ГОСТ 19656.14-79;ГОСТ 21493-76;ГОСТ 23088-80;ГОСТ 23135-78;ГОСТ 24385-80;ГОСТ 25359-82;ГОСТ 25360-82;ГОСТ 25467-82;ГОСТ 25486-82 |
| ГОСТ 20271.1-91 Изделия электронные СВЧ. Методы измерения электрических параметров | 01.07.1992 | действует |
| Название англ.: Microwave electronic devices. Methods of measuring electrical parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные приборы СВЧ, модули и блоки СВЧ, защитные устройства СВЧ, криоэлектронные изделия СВЧ и изделия СВЧ с термоэлектронным охлаждением, работающие в диапазоне частот от 0,03 до 178,6 ГГц, и устанавливает методы измерения электрических параметров, общих для этих изделий Нормативные ссылки: ГОСТ 20271.0-81;ГОСТ 20271.1-75;ГОСТ 20271.2-82;ГОСТ 20271.4-81;ГОСТ 20271.5-83;ГОСТ 20271.6-83;ГОСТ 20271.7-84;ГОСТ 20271.8-84;ГОСТ 20271.9-86, IEC 60235-2(1972);IEC 60235-2A(1974);IEC 60235-2D(1976);ГОСТ 8.383-80;ГОСТ 12.1.005-88;ГОСТ 12.1.006-84;ГОСТ 12.3.019-80;ГОСТ 20.57.406-81;ГОСТ 2874-82;ГОСТ 6709-72;ГОСТ 9541-75;ГОСТ 13317-89;ГОСТ 16263-70;ГОСТ 22261-82;ГОСТ 23221-78;ГОСТ 23769-79;ОСП-72/87;СП № 1960-70 |
| ГОСТ 20271.3-91 Изделия электронные СВЧ. Методы измерения параметров модулирующего импульса | 01.07.1992 | действует |
| Название англ.: Microwave electronic devices. Methods of measuring of modulating impulse parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные приборы СВЧ, модули и блоки СВЧ, защитные устройства СВЧ и устанавливает следующие методы измерения параметров модулирующего импульса прямоугольной формы (амплитуды импульса, амплитуды апроксимированного импульса, длительности импульса, длительности фронта импульса, длительности спада импульса, скоса импульса, выброса на вершине импульса, пульсации импульса, выброса обратной полярности в паузе, выброса прямой полярности в паузе): - осциллографический метод; - компенсационный метод для измерения амплитуды модулирующего импульса; - метод пикового вольтметра для измерения амплитуды модулирующего импульса; - метод мгновенных амплитуд напряжения на стробируемых интервалах длительности импульса Нормативные ссылки: ГОСТ 20271.3-79, IEC 60235-2(1972);ГОСТ 20.57.406-81;ГОСТ 16263-70;ГОСТ 23221-78;ГОСТ 23769-79;ГОСТ 20271.1-91 |