Обозначение | Дата введения | Статус |
 ГОСТ 19014.3-73 Кремний кристаллический. Методы определения кальция | 01.01.1975 | действует |
Название англ.: Crystal silicon. Methods of calcium determination Область применения: Настоящий стандарт устанавливает титриметрический и атомно-абсорбционный методы определения кальция (при массовой доле кальция от 0,30 до 1,60 %) в кристаллическом кремнии Нормативные ссылки: ГОСТ 2178-54 в части разд. V, ГОСТ 83-79; ГОСТ 1381-73; ГОСТ 3118-77; ГОСТ 3760-79; ГОСТ 3773-72; ГОСТ 4199-76; ГОСТ 4234-77; ГОСТ 4461-77; ГОСТ 4530-76; ГОСТ 5457-75; ГОСТ 5817-77; ГОСТ 10652-73; ГОСТ 18300-87; ГОСТ 19014.0-73; ГОСТ 19014.1-73; ГОСТ 24363-80 |
 ГОСТ 19014.4-73 Кремний кристаллический. Методы определения титана | 01.01.1975 | действует |
Название англ.: Crystal silicon. Methods of titanium determination Область применения: Настоящий стандарт устанавливает фотометрический и атомно-абсорбционный методы определения титана (при массовой доле титана от 0,10 до 0,40 %) в кристаллическом кремнии Нормативные ссылки: ГОСТ 2178-54 в части разд. VI, ГОСТ 83-79; ГОСТ 3118-77; ГОСТ 4165-78; ГОСТ 4199-76; ГОСТ 4204-77; ГОСТ 5457-75; ГОСТ 7172-76; ГОСТ 19014.0-73; ГОСТ 19014.1-73; ГОСТ 19807-74 |
 ГОСТ 19658-81 Кремний монокристаллический в слитках. Технические условия | 01.01.1983 | действует |
Название англ.: Monocrystalline silicon in ingots. Specifications Область применения: Настоящий стандарт распространяется на слитки монокристаллического кремния, получаемые методом Чохральского и предназначенные для изготовления пластин-подложек, используемых в производстве эпитаксиальных структур и структур металл-диэлектрик-полупроводник Нормативные ссылки: ГОСТ 19658-74, ГОСТ 2.004-88; ГОСТ 61-75; ГОСТ 334-73; ГОСТ 427-75; ГОСТ 701-89; ГОСТ 1367.0-83; ГОСТ 1770-74; ГОСТ 2263-79; ГОСТ 2548-77; ГОСТ 2567-89; ГОСТ 2789-73; ГОСТ 2874-82; ГОСТ 3647-80; ГОСТ 3776-78; ГОСТ 4160-74; ГОСТ 4220-75; ГОСТ 4461-77; ГОСТ 5017-74; ГОСТ 5959-80; ГОСТ 5962-67; ГОСТ 9206-80; ГОСТ 9285-78; ГОСТ 9412-93; ГОСТ 9696-82; ГОСТ 10197-70; ГОСТ 10354-82; ГОСТ 10484-78; ГОСТ 11069-74; ГОСТ 11078-78; ГОСТ 11109-90; ГОСТ 11125-84; ГОСТ 12026-76; ГОСТ 12997-84; ГОСТ 14192-77; ГОСТ 17299-78; ГОСТ 18270-72; ГОСТ 18300-87; ГОСТ 20477-86; ГОСТ 23676-79; ГОСТ 24392-80; ГОСТ 25593-83; ГОСТ 26239.1-84; ГОСТ 29298-92; ГОСТ 29329-92;ТУ 6-09-3401-70;ТУ 6-09-4015-78;ТУ 25-10(АМЦ2.778.019)-84;ТУ 25-10(АМЦ2.778.020)-84 |
 ГОСТ 19709.1-83 Теллур высокой чистоты. Метод определения серы | 01.01.1985 | действует |
Название англ.: Tellurium of high purity. Method for determination of sulphur Область применения: Настоящий стандарт устанавливает полярографический метод определения серы (при массовой доле сукы от 0,00002 до 0,03%) в теллуре высокой чистоты. Метод основан на восстановлении соединений серы до сероводорода, отгонке, и поглощении его раствором щелочи в присутствии гидроксиламина и трилона Б и полярографировании раствора, содержащего сульфид-ионы Нормативные ссылки: ГОСТ 19709.1-74, ГОСТ 200-76; ГОСТ 2053-77; ГОСТ 4109-79; ГОСТ 4145-74; ГОСТ 4200-77; ГОСТ 4232-74; ГОСТ 4234-77; ГОСТ 4461-77; ГОСТ 4658-73; ГОСТ 5456-79; ГОСТ 6408-75; ГОСТ 4658-73 ; ГОСТ 6709-72; ГОСТ 9293-74; ГОСТ 10157-79; ГОСТ 10652-73; ГОСТ 14261-77; ГОСТ 19908-80; ГОСТ 22306-77; ГОСТ 24147-80; ГОСТ 20490-75; ГОСТ 24977.1-81 |
 ГОСТ 19709.2-83 Теллур высокой чистоты. Методы определения селена | 01.01.1985 | действует |
Название англ.: Tellurium of high purity. Methods for determination of selenium Область применения: Настоящий стандарт устанавливает экстракционно-флуориметрический (при массовой доле селена от 0,000005 до 0,0005 %) и спектрофотометрический (при массовой доле селена от 0,0001 до 0,02 %) методы определения селена в теллуре высокой чистоты. Спектрофотометрический метод основан на образовании соединения селена с о-фенилендиамином при рН 1-2, поглощающего свет в ультрафиолетовой области спектра при длине волны 335 нм. Образующееся соединение экстрагируется бензолом. Теллур связывается лимонной кислотой Нормативные ссылки: ГОСТ 19709.2-74, ГОСТ 3118-77; ГОСТ 3652-69; ГОСТ 3760-79; ГОСТ 4461-77; ГОСТ 5455-74; ГОСТ 5789-78; ГОСТ 5848-73; ГОСТ 5955-75; ГОСТ 6709-72; ГОСТ 10652-73; ГОСТ 11125-84; ГОСТ 14262-78; ГОСТ 14261-77; ГОСТ 18300-87; ГОСТ 19709.1-83; ГОСТ 22306-77; ГОСТ 24147-80 |
 ГОСТ 22622-77 Материалы полупроводниковые. Термины и определения основных электрофизических параметров | 01.07.1978 | действует |
Название англ.: Semiconductor materials. Terms and definitions Область применения: Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины и определения основных понятий полупроводниковых материалов Нормативные ссылки: ГОСТ 19880-74; ГОСТ Р 52002-2003 |
 ГОСТ 24392-80 Кремний и германий монокристаллические. Измерение удельного электрического сопротивления четырехзондовым методом | 01.01.1981 | действует |
Название англ.: Monocrystalline silicon and germanium. Measurement of the electrical resistivity by the four-probe method Область применения: Настоящий стандарт устанавливает четырехзондовый метод измерения удельного электрического сопротивления на плоской поверхности слитков монокристаллических кремния и германия электронного или дырочного типа электропроводности в диапазоне значений удельного электрического сопротивления от 1х10 в ст. минус 4 до 1х10 в ст. 4 Ом.см Нормативные ссылки: СТ СЭВ 1250-78, ГОСТ 2789-73; ГОСТ 2874-82; ГОСТ 3647-80; ГОСТ 9206-80; ГОСТ 12026-76; ГОСТ 18300-87; ГОСТ 29298-92 |
 ГОСТ 24977.1-81 Теллур высокой чистоты. Химико-спектральный метод определения примесей | 01.01.1983 | действует |
Название англ.: Tellurium high purity. Method of chemical and spectral for the ditermination of impurities Область применения: Настоящий стандарт устанавливает химико-спектральный метод определения индия, галлия, хрома, свинца, марганца, серебра и меди в теллуре высокой чистоты марки Т-В4 Нормативные ссылки: ГОСТ 17434-72, ГОСТ 12.0.004-90; ГОСТ 12.1.005-88; ГОСТ 12.1.007-76; ГОСТ 12.1.019-79; ГОСТ 12.2.007.0-75; ГОСТ 12.3.019-80; ГОСТ 12.4.021-75; ГОСТ 195-77; ГОСТ 244-76; ГОСТ 859-78; ГОСТ 3773-72; ГОСТ 3774-76; ГОСТ 3778-77; ГОСТ 4160-74; ГОСТ 4221-76; ГОСТ 6008-90; ГОСТ 6613-86; ГОСТ 6709-72; ГОСТ 6836-80; ГОСТ 7328-82; ГОСТ 10297-94; ГОСТ 11125-84; ГОСТ 12797-77; ГОСТ 13718-68; ГОСТ 18300-87; ГОСТ 19627-74; ГОСТ 19908-90; ГОСТ 21241-89; ГОСТ 22306-77; ГОСТ 23463-79; ГОСТ 24104-88; ГОСТ 25664-83;ТУ 48-20-78-75;ТУ 6-04-65-82;ТУ 48-0515-028-89;ТУ 6-43-1475-88 |
 ГОСТ 24977.2-81 Теллур высокой чистоты. Спектральный метод определения примесей | 01.01.1983 | действует |
Название англ.: Tellurium high purity. Spectral method for the determination of impurities Область применения: Настоящий стандарт устанавливает спектральный метод определения серебра, меди, свинца, алюминия, железа, олова, висмута, магния, золота, кобальта, никеля, марганца, галлия, индия, хрома в теллуре высокой чистоты марок Т-В4, Т-В3 и Т-А1 Нормативные ссылки: ГОСТ 21326.1-75, ГОСТ 123-78; ГОСТ 849-70; ГОСТ 859-78; ГОСТ 860-75; ГОСТ 1770-74; ГОСТ 3774-76; ГОСТ 3778-77; ГОСТ 6008-90; ГОСТ 6835-80; ГОСТ 6836-80; ГОСТ 10297-94; ГОСТ 10928-90; ГОСТ 11069-74; ГОСТ 11125-78; ГОСТ 12797-77; ГОСТ 13718-68; ГОСТ 14261-77; ГОСТ 18300-87; ГОСТ 19908-90; ГОСТ 21241-89; ГОСТ 22180-76; ГОСТ 23463-79; ГОСТ 24977.1-81;ТУ 48-20-78-76;ТУ 6-43-1475-88;ТУ 6-04-65-82;ТУ 48-0515-028-89 |
 ГОСТ 24977.3-81 Теллур высокой чистоты. Спектральный метод определения мышьяка, cурьмы, ртути и кадмия | 01.01.1983 | действует |
Название англ.: Tellurium high purity. Spectral method for the determination of arsenic, autimonic, mercury and cadmium Область применения: Настоящий стандарт устанавливает спектральный метод определения мышьяка, сурьмы, ртути и кадмия в теллуре высокой чистоты Нормативные ссылки: ГОСТ 1089-82; ГОСТ 4461-77; ГОСТ 5230-74; ГОСТ 5817-77; ГОСТ 7328-82; ГОСТ 11120-75; ГОСТ 13718-68; ГОСТ 18300-87; ГОСТ 19908-90; ГОСТ 21241-89; ГОСТ 22306-77; ГОСТ 24104-88; ГОСТ 24977.1-81;ТУ 16-88;ТУ 6-04-65-82;ТУ 48-0515-028-89 |