| Обозначение | Дата введения | Статус |
  ГОСТ 18986.5-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения | 01.01.1975 | действует |
| |
| ГОСТ 18986.6-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления | 01.01.1975 | действует |
| Область применения: Стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления, и устанавливает метод измерения заряда восстановления. |
| ГОСТ 18986.7-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда | 01.01.1975 | действует |
| Область применения: Стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ.
Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда:
- для импульсных и смесительных диодов СВЧ;
- для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ. |
| ГОСТ 18986.8-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления | 01.01.1975 | введен впервые |
| Область применения: Стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановления. |
| ГОСТ 18986.9-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения | 01.01.1975 | действует |
Заменяет собой:  ГОСТ 10965-64 «Диоды полупроводниковые. Метод измерения максимального импульсного прямого напряжения» |
| ГОСТ 18986.10-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности | 01.07.1976 | действует |
| |
| ГОСТ 18986.11-84 Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь | 01.07.1985 | действует |
Область применения: Стандарт распространяется на варикапы и туннельные диоды и устанавливает два метода измерения последовательного сопротивления потерь: для варикапов, предназначенных для работы в диапазоне от 0,25 до 1000 МГц; для туннельных диодов. Заменяет собой: - ГОСТ 18986.11-74 «Диоды полупроводниковые. Методы измерения сопротивления потерь»
|
| ГОСТ 18986.12-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода | 01.07.1976 | действует |
| Область применения: Стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения отрицательной проводимости. |
| ГОСТ 18986.13-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора | 01.07.1976 | действует |
| Область применения: Стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения параметров вольтамперной характеристики диода: пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора. |
| ГОСТ 18986.14-85 Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений | 01.07.1986 | действует |
Область применения: Стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений: метод замещения; резонансный метод с параллельным контуром; резонансный метод с последовательным контуром; мостовой метод. Стандарт не распространяется на стабилитроны. Заменяет собой: - ГОСТ 18986.14-75 «Диоды полупроводниковые. Метод измерения дифференциального сопротивления»
- ГОСТ 19656.8-74 «Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Метод измерения дифференциального сопротивления»
|